Phone number
+38 044 333 91 39
Email
kontakt@novations.ua
UA
EN
CN
MENU
MENU
Аналіз документів та відбитків
Аналіз документів
Відеоспектральний компаратор VSC
Cистема для експрес аналізу документів Eye-D®
Система експрес дослідження документів PD2000
Система ESDA для візуалізації втиснених написів
Система для швидкої перевірки паспортів VSC QC1
Аналіз речових доказів
Раманівський мікроспектрометр Foram3
Система елементного аналізу ECCO
Науково-дослідний комплекс FFTA
Аналіз відбитків
Система DCS 5 для відображення відбитків пальців
RECOVER LFT (Система виявлення латентних слідів рук)
Система Crime-lite Imager
Цианоакрилатові камери серії MVC
Аналіз форм тарозмірів часток
Лазерні аналізатори розміру частинок
Аналізатор розмірів частинок NanoBrook Omni виробництва компанії Brookhaven Instruments Ltd. (США)
Аналізатор розміру частинок та дзета-потенціалу Bettersize BeNano 90 Zeta
Лазерний аналізатор розміру частинок Bettersizer 2600
Аналізатор розміру частинок Bettersizer ST
Аналізатор розміру та форми частинок Bettersizer S3/S3 Plus
On-line аналізатор розміру частинок BT-Online1
Аналізатори характеристик порошку
Автоматичний аналізатор PowderPro A1
Ручний аналізатор PowderPro M1
Аналізатори питомої поверхні та пористості
Аналізатори JWGB 100
Аналізатори JWGB 200
Аналізатори JWGB 300
Високоефективні аналізатори JWGB 400
Статично-об’ємні аналізатори сорбції пари JWGB Vapor
Аналізатори питомої поверхні JWGB Surface D
Аналізатори істинної густини
ІЧ та Раманівська спектроскопія
Аналізатори для аналізу сировини та готової продукції
Раманівські аналізатори TruScan RM/GP
Раманівський аналізатор TruScan GP
Раманівський аналізатор TruScan RM
Аналізатори для ідентифікації вибухових та наркотичних речовин
Аналізатор Gemini
Раманівський аналізатор FirstDefender
FTIR-аналізатор TruDefender
Аналізатор наркотичних речовин TruNarc
БлІЧ-аналізатори microNIR
БлІЧ-спектрометр microNIR Pro 1700
БліЧ-спеткрометр microNIR Onsite-W
мікро-Фур'є-спектрометри
Інфрачервоний Фур'є спектрометр Novations FTIR
Процесні БлІЧ-спектрометри
БлІЧ спектрометр microNIR PAT-U
Спектрометр microNIR PAT W
Електронна мікроскопія
Растрові електронні мікроскопи FEI
Скануючі електронні мікроскопи Apreo™ 2 SEM
Скануючі електронні мікроскопи Quattro ESEM
Скануючі електронні мікроскопи Verios™ XHR SEM
Скануючі електронні мікроскопи Prisma™ E SEM
Скануючі електронні мікроскопи Axia™ ChemiSEM
Просвітлюючі електронні мікроскопи FEI
Просвітлюючі електронні мікроскопи Talos TEM
Просвітлюючі електронні мікроскопи Themis TEM
Електронно-іонні мікроскопи (двопучкові системи)
Двопучкові системи Helios NanoLab
Електронно-іонні мікроскопи Scios
Аналітичні системи Oxford Instruments
Система детектування EDS від Oxford Instruments
Система детектування EBSD від Oxford Instruments
Система детектування WDS від Oxford Instruments
Програмне забезпечення Oxford Instruments
Аналітичні системи AMETEK
Система детектування EDS від AMETEK
Система детектування EBSD від AMETEK
Система детектування WDS від AMETEK
Програмне забезпечення AMETEK
Вакуумне обладнання
Контакти
Головна Сторінка
»
General
Аналіз документів та відновлення відбитків
Аналіз документів
Аналіз речових доказів
Аналіз відбитків
Система виявлення латентних слідів рук
Аналіз форм та розмірів часток, білків і полімерів
Лазерні аналізатори розміру частинок
Аналізатори характеристик порошку
Аналізатори питомої поверхні та пористості
Лічильники частинок в повітрі
Методи аналізу. Аналізу форм та розміру часток
Використання (аерозолі, емульсії, порошки, суспензії)
ІЧ та Раманівська ідентифікація матеріалів
Аналізатори для аналізу сировини та готової продукції
Аналізатори для ідентифікації вибухових та наркотичних речовин
БлІЧ-аналізатори microNIR
Процесні БлІЧ-спектрометри
Методи аналізу
Використання
Мікро-Фур’є Спектрометри
Інфрачервоний Фур’є спектрометр Novations FTIR
Електронна мікроскопія
Растрові електронні мікроскопи FEI
Просвітлюючі електронні мікроскопи FEI
Електронно-іонні мікроскопи (двопучкові системи)
Аналітичні системи Oxford Instruments
Аналітичні системи AMETEK
Калібрування обладнання
Контакти
UA
(
UA
)
EN
(
EN
)
CN
(
CN
)