Аналітичні системи Oxford Instruments

Завдяки електронним мікроскопам SEM та ТЕМ можливо одержати зображення поверхні чи структури зразка шляхом сканування чи просвічування його сфокусованим пучком електронів. Взаємодія електронів з атомами зразка створює сигнали, що несуть інформацію про рельєф поверхні, склад і структуру об’єкта дослідження. В залежності від механізму реєстрації сигналу можливо отримати різну інформацію про об’єкт дослідження. Компанія Oxford Instruments розробляє та виготовляє передові інструменти для застосування в електронних мікроскопах (SEM і TEM) та іонно-променевих системах (FIB). Інструменти від Oxford Instruments (детектори та програмне забезпечення) дозволяють характеризувати матеріали та маніпулювати зразками в нанометровому діапазоні. Продаж та гарантійна і сервісна підтримка від компанії Новації.

Області застосування:

• для науково-дослідних та дослідницьких робіт;
• для промислових застосувань;
• для досліджень напівпровідників;
• для досліджень поновлюваних джерел енергії;
• для гірничодобувної промисловості;
• для металургії;
• для криміналістичних досліджень