Аналітичні системи Oxford Instruments

Аналітичні системи Oxford Instruments

Завдяки електронним мікроскопам SEM та ТЕМ можливо одержати зображення поверхні чи структури зразка шляхом сканування чи просвічування його сфокусованим пучком електронів. Взаємодія електронів з атомами зразка створює сигнали, що несуть інформацію про рельєф поверхні, склад і структуру об’єкта дослідження. В залежно від механізму реєстрації сигналу можливо отримати різну інформацію про об’єкт дослідження. Компанія Oxford Instruments розробляє та виготовляє передові інструменти для застосунку в електронних мікроскопах (SEM і TEM) та іонно-променевих системах (FIB). Інструменти від Oxford Instruments (детектори та програмне забезпечення) дозволяють характеризувати матеріали та маніпулювати зразками в нанометровому діапазоні. Продаж та гарантійна і сервісна підтримка від компанії Новації.

Області застосування:

  • для науково-дослідних та дослідницьких робіт;
  • для промислових застосувань;
  • для досліджень напівпровідників;
  • для досліджень поновлюваних джерел енергії;
  • для гірничодобувної промисловість;
  • для металургії;
  • для криміналістичних досліджень

Програмне забезпечення Oxford Instruments

Новації | Аналітичні системи Oxford Instruments

Система детектування WDS від Oxford Instruments

Новації | Аналітичні системи Oxford Instruments

Система детектування EDS від Oxford Instruments

Новації | Аналітичні системи Oxford Instruments

Система детектування EBSD від Oxford Instruments

Новації | Аналітичні системи Oxford Instruments

Якщо ви знайшли помилку, будь ласка, виділіть фрагмент тексту та натисніть Ctrl+Enter.

Повідомити про помилку

Текст, який буде надіслано нашим редакторам: