Електронна мікроскопія

Електронна мікроскопія

Швидкі, ефективні і універсальні електронні мікроскопи:

  • растрові або ж скануючі (SEM);
  • просвітлюючі або ж трансмісійні (ТЕМ)

від компанії FЕI (Thermo Scientific) визнані в світі провідними системами для дослідження рельєфу поверхні, складу і структури об’єкта з нанометровим розділенням. В електронному мікроскопі для спостереження збільшеного зображення на об’єкт дослідження направляють сфокусований електронний промінь. Методи спостереження залежать від місця розташування детекторів і дозволяють отримувати  різну інформацію про обʼєкт: спостереження в пройдених через обʼєкт променях; аналіз відбитих променів при реєстрації вторинних електронів чи рентгенівського випромінювання. Відповідно до поставленої задачі обирається метод реєстрації та програмне забезпечення з відповідним детектором:

  • енергодисперсійної спектроскопії (EDS),
  • дифракції зворотно розсіяних електронів (EBSD),
  • спектроскопії хвильової дисперсії (WDS).

Растрові електронні мікроскопи FEI

Новації | Електронна мікроскопія

Просвітлюючі електронні мікроскопи FEI

Новації | Електронна мікроскопія

Електронно-іонні мікроскопи (двопучкові системи)

electronno-ionni-microscopi-768x890

Кріоелектронні мікроскопи

1671733934412

Аналітичні системи AMETEK

Новації | Електронна мікроскопія

Аналітичні системи Oxford Instruments

Новації | Електронна мікроскопія

Якщо ви знайшли помилку, будь ласка, виділіть фрагмент тексту та натисніть Ctrl+Enter.

Повідомити про помилку

Текст, який буде надіслано нашим редакторам: