Електронна мікроскопія

Швидкі, ефективні і універсальні електронні мікроскопи:

растрові або ж скануючі (SEM);
просвітлюючі або ж трансмісійні (ТЕМ)

від компанії FЕI(Thermo Scientific) визнані в світі провідними системами для дослідження рельєфу поверхні, складу і структури об’єкта з нанометровим розділенням. В електронному мікроскопі для того, щоб спостерігати збільшене зображення сфокусований електроний пучок спрямовується на об’єкт дослідження. Методи спостереження залежать від місця розташування детекторів і дозволяють отримувати різну інформацію про обʼєкт: спостереження в пройдених через обʼєкт променях; аналіз відбитих променів при реєстрації вторинних електронів чи рентгенівського випромінювання. Відповідно до поставленої задачі обирається метод реєстрації та програмне забезпечення з відповідним детектором: