Електронна мікроскопія

Електронна мікроскопія

Швидкі, ефективні і універсальні електронні мікроскопи:

  • растрові або ж скануючі (SEM);
  • просвітлюючі або ж трансмісійні (ТЕМ)

від компанії FЕI(Thermo Scientific) визнані в світі провідними системами для дослідження рельєфу поверхні, складу і структури об’єкта з нанометровим розділенням. В електронному мікроскопі для того, щоб спостерігати збільшене зображення сфокусований електроний пучок спрямовується на об’єкт дослідження. Методи спостереження залежать від місця розташування детекторів і дозволяють отримувати  різну інформацію про обєкт: спотереження в пройдених через обєкт променях; аналіз відбитих променів при реєстрації вторинних електронів чи рентгенівського випромінювання. Відповідно до поставленої задачі обирається метод реєстрації та програмне забезпечення з відповідним детектором:

  • енергодисперсійної спектроскопії (EDS),
  • дифракції зворотно розсіяних електронів (EBSD),
  • спектроскопії хвильової дисперсії (WDS).

Растрові електронні мікроскопи FEI

Новації | Електронна мікроскопія

Просвітлюючі електронні мікроскопи FEI

Новації | Електронна мікроскопія

Аналітичні системи AMETEK

Новації | Електронна мікроскопія

Аналітичні системи Oxford Instruments

Новації | Електронна мікроскопія

Якщо ви знайшли помилку, будь ласка, виділіть фрагмент тексту та натисніть Ctrl+Enter.

Повідомити про помилку

Текст, який буде надіслано нашим редакторам: