1) Оптична система BeNano 90 Zeta:

2) Динамічне розсіювання світла (DLS)
Динамічне розсіювання світла (DLS), також відоме як фотонна кореляційна спектроскопія (PCS) або квазіеластичне розсіювання світла (QELS), – це технологія, яка використовується для виявлення коливань інтенсивності розсіяного світла, спричинених броунівським рухом частинок.

У диспергаторі дрібні частинки рухаються швидше, тоді як більші частинки рухаються повільніше. Лавинний фотодіодний детектор (APD), вирівняний на 90 °, збирає інтенсивність розсіювання частинок і реєструє їх з плином часу. Залежні від часу коливання перетворюється у кореляційну функцію за допомогою корелятора. Застосовуючи математичний алгоритм, таким чином отримують коефіцієнт дифузії D. Гідродинамічний діаметр DН та його розподіл розраховуються за рівнянням Стокса-Ейнштейна:

3) Електрофоретичне розсіювання світла (ELS)
Частинки зазвичай несуть заряди на поверхні у водних системах, оточених протиіонами, які утворюють міцно зв’язаний з поверхнею внутрішній шар Штерна і зовнішній зсувний шар (Гуї-Чепмена). Дзета-потенціал – це електричний потенціал на межі зсувного шару. Суспензії з вищими дзета-потенціалами, як правило, є більш стабільними та менш схильними до утворення агрегатів.
Електрофоретичне розсіяння світла – це технологія вимірювання електрофоретичної мобільності за допомогою доплерівських зсувів розсіяного світла. Коли падаюче світло освітлює дисперсні частинки, які піддаються дії електричного поля, частота розсіяного світла частинок буде відрізнятися від частоти падаючого світла через ефект Доплера. Зміщення частоти вимірюється та перетворюється для забезпечення електрофоретичної мобільності, а отже, і дзета-потенціалу зразка за рівнянням Генрі.



4) Статичне розсіювання світла (SLS)
Статичне розсіювання світла (SLS) – це технологія, яка вимірює інтенсивність розсіювання зразка, середньомассову молекулярну масу (Mw) та другий віріальний коефіцієнт A2 за допомогою рівняння Релея:

де C – концентрація зразка, θ – кут детектування, Rθ – коефіцієнт Релея, що використовується для характеристики співвідношення інтенсивності між розсіяним світлом та падаючим світлом під кутом θ, Mw – середня молекулярна маса зразка, A2 – другий віріальний коефіцієнт, а K – константа, що відноситься до (dn / dc) 2.
Під час вимірювань молекулярної маси виявляються інтенсивності розсіювання зразка при різних концентраціях. Використовуючи інтенсивність розсіювання та коефіцієнт Релея відомого стандарту (наприклад, толуолу), коефіцієнти Релея зразків при різних концентраціях обчислюють і наносять на графік Дебая. Потім молекулярну масу та другий віріальний коефіцієнт отримують шляхом перехоплення та нахилу від лінійної регресії графіку Дебая.

Використання методу ELS:
Використання методу DLS:
Використання методу SLS:
| Параметр | |
|---|---|
| Вимірювання розміру частинок | 0.3 нм – 15 мкм |
| Мінімальний об’єм зразка | 3 мкл |
| Кут детектування | 90°С, 12°С |
| Алгоритм аналізу | Кумулятивний; Універсальний режим; CONTIN |
| Вимірювання дзета-потенціалу | |
| Кут детектування | 12°С |
| Діапазон дзета-потенціалу | без обмежень |
| Діапазон електрофоретичної мобільності | > ±20 мкм.см/в.с |
| Діапазон електропровідності | 0-260 мСм/см |
| Мінімальний об’єм зразка | 0.75-1 мл |
| Вимірювання молекулярної маси | |
| Діапазон молекулярної маси | 342 – 2 * 107а. о. м |
| Вимірювання в’язкості | |
| Діапазон в’язкості | 0.01 сП – 100 сП |
| Параметр взаємодії (interaction parameter) k0 | без обмежень |
| Системні параметри | |
| Діапазон температурного контролю | -10°С – 110°С ± 0.1°С |
| Контроль конденсації | Сухе повітря або азот |
| Стандартне джерело лазерного випромінювання | 50 мВт твердотільний лазер, 671 нм |
| Коррелятор | до 4000 каналів, динамічний лінійний діапазон – 1011 |
| Детектор | APD (лавинний фотодетектор) |
| Контроль інтенсивності | 0.0001% – 100%, ручний або автоматичний |
| Габарити | 62.5 х 40 х 24.5 см (22 кг) |
| Живлення | 220 В, 60 Вт |
| Додатково | – Одноразова мікрокювета – Скляна мікрокювета – Скляна кювета з круглим отвором – Занурювальна комірка Dip Cell |