Система детектування EDS від AMETEK
Серія детекторів EDS рентгенівської енергодисперсійної спектроскопії від компанії EDAX AMETEK забезпечує потужний аналітичний потенціал у компактному пакеті, максимальну продуктивність та гнучкість, дозволяючи при цьому спрощену роботу, швидкі результати та простоту використання. Поєднання кремнієвого-детектора (SDD) із зручним для користувачів програмним забезпеченням APEX забезпечує повне рішення для всіх рівнів аналізу та високої продуктивності роботи.
Метод енергодисперсійної рентгенівської спектроскопії (EDS) – методика елементного аналізу твердої речовини. Використовуючи електронний мікроскоп (SEM чи TEM) для збудження електронним пучком атомів у досліджуваному зразку, отримуємо спектр характерного рентгенівського випромінювання. Аналіз спектру такого випромінювання дозволяє робити висновки про якісний та кількісний склад зразка.
Купити детектори EDS від компанії EDAX AMETEK, які представлені наступним модельним рядом: Element EDS System, Octane Elite EDS System, Octane Elect EDS System. Оптимізована електроніка та конструкція детекторів SDD для отримання стабільної енергії при високій швидкості збору даних.
- Швидка обробка імпульсів для відображення та кількісного визначення.
- Оптимізована якість даних при всіх швидкостях підрахунку.
- Кількісний аналіз високої роздільної здатності зі швидкістю відображення більше 300 000 фотонів в секунду.
- Оптимізована конструкція для виявлення легких елементів.
| Element EDS System | Octane Elite EDS System | Octane Elect EDS System | |
|---|---|---|---|
| Активна площа кристала | 30 мм2 | Plus (30 мм2) Super (70 мм2) | Plus (30 мм2) Super (70 мм2) |
| Наявність просвітлених вікон (підвищення чутливості виявлення легких елементів) | Вікно з нітриду кремнію Si3N4 | Вікно з нітриду кремнію Si3N4 | Вікно з нітриду кремнію Si3N4 |
| Гарантовані характеристики розділення за енергією | 129еВ, Mn Кα і 10000 CPS | 125еВ, Mn Кα і 10000 CPS 123еВ додаткова функція | 127еВ, Mn Кα і 10000 CPS |
| Модуль герметично закритий під вакуумом | Так | Так | Так |
| Слайдер (керування рухом детектора при занадто великому потоці електронів на малих збільшеннях) | Фіксований або ручний | Фіксований або ручний | Фіксований або ручний |
| Кількісний аналіз | > 300 000 CPS | > 850 000 CPS | > 700 000 CPS |
| Рентгенографічне картування | > 1 000 000 CPS | > 2 000 000 CPS | > 1 600 000 CPS |
| Діапазон виявлення | Be до Am | Al L (73 еВ) до Am | Al L (73 еВ) до Am |
| Охолодження | Елемент Пельтьє | Елемент Пельтьє | Елемент Пельтьє |
