Програмне забезпечення AMETEK та Oxford Instruments

Програмне забезпечення AMETEK та Oxford Instruments

Програмне забезпечення для керування та отримання надійних результатів детекторами EDS, WDS, EBSD від компаній EDAX AMETEK та Oxford Instruments. Інтуїтивно зрозуміле та зручне у користуванні програмне забезпечення для збору та аналізу даних від AMETEK забезпечує високу якість, точні результати та підвищення продуктивності. Програмні продукти Oxford Instruments забезпечують спостереження з приголомшливою деталізацією на одному або декількох моніторах. Або ж, не прив’язуючись до місця перебування, можливо стежити за виконанням аналізу за допомогою iPAD дистанційно.

Новации | Аналитические системы Oxford Instruments

Програмне забезпечення від EDAX AMETEK характеризується:

  • простим у користуванні інтерфейсом;
  • графічним відображенням в режимі реального часу та одночасним аналізом в режимі огляду;
  • швидкістю виконання задач, робить більше, робить розумніші, і все це в реальному часі;
  • гнучкістю проведення аналізу, проводить аналіз тим медом і в тому місці де вам зручно;
  • інтегрованістю з можливістю використання одного програмного забезпечення для аналізу з різними детекторами і для різних задач;
  • швидке та зручне фазове картографування;
  • динамічний режим звітності.

Програмне забезпечення APEX ™ для EDS

APEX ™ – це інтуїтивна та зручна у користуванні 64-розрядна програма для EDAX для збору та аналізу даних завдяки енергодисперсної спектроскопії (EDS). APEX ™ забезпечує високоякісні, точні результати та підвищену продуктивність завдяки:

  • Легкість використання інтерфейсу для зручності роботи на всіх рівнях;
  • Збір даних та звітність всього лише одним натиском «миші»;
  • Автоматизація рутинних завдань для швидкого та простого аналізу;
  • Одномісний вхід для зручності використання або повного контролю облікового запису;
  • Режим входу або адміністратора Windows.

Програмне забезпечення TEAM™ Analysis System

Система аналізу TEAM™ для роботи з детекторами EDS, EBSD та WDS поєднує їх в один інтерфейс і забезпечує максимальну швидкість та легкість огляду матеріалів. Простота використання програмної платформи TEAM ™ з аналітичною програмою OIM Analysis забезпечує найсучасніші характеристики кристалічної структури для всіх користувачів. Вдосконалення роздільної здатності та більша чутливість WDS визначає пікове перекриття та ефективно відкриває мікроелементи, надаючи користувачеві чітку картину складу зразків.

Високу якість роботи TEAM™ досягає завдяки:

  • Інтуїтивно зрозумілому і простому у використанні інтерфейсу;
  • Розумним функціям, які гарантують оптимізовану настройку отримання та якість даних;
  • Можливості проведення як якісного, так і кількісного аналізу;
  • Динамічному відображенню в реальному часі, що дозволяє проводити аналіз даних у режимі реального часу;

Програмне забезпечення OIM Analysis

OIM Analysis методика, заснована на автоматизованому збиранні та аналізі EBSD. Ці картографічні дані надають інформацію про орієнтацію, розподіл фаз, розмір та форму зерна, структуру меж зерна та локальну деформацію кристалографічних мікроструктур. Карти OIM надають кольорову та змістовну графіку, яка дає необхідну інформацію про мікроструктури. Діаграми OIM показують числові зображення представленої мікроструктури зі статистичною інформацією для легкого порівняння. Діаграми OIM пропонують візуалізацію вимірюваних розподілів орієнтації та дезорієнтації. Шаблони OIM пропонують простий у використанні інструмент для виконання повторних, налаштованих на аналіз даних OIM.

Програмне забезпечення PRIAS

Система аналізу складних зон інтересу (PRIAS ™) – нова синергетична техніка візуалізації мікроструктури, дозволяє користувачам швидко характеризувати матеріали. Завдяки використанню детектора Velocity™ EBSD, програмне забезпечення PRIAS надає до 25 позиціювань детектора, щоб забезпечити безпрецедентну гнучкість у отриманні та візуалізації зображень. PRIAS застосовується для аналізу: металу, кераміки, напівпровідників та корисних копалин, а також пластмаси та скла.

Програмне забезпечення NPAR

NPAR ™ це інноваційний підхід до вимірювання кристалографічної орієнтації за шаблонами електронної дифракції (EBSD). Ефективність діапазону виявлення залежить від співвідношення сигнал/шум (SNR). Шум і зменшений SNR дозволяє посилити сигнал і отримати збільшення частоти кадрів камери за той же інтервал часу, що дозволяє покращити отримання додаткової інформації.

Програмне забезпечення від Oxford Instruments характеризується:

  • точністю отриманих результатів;
  • іноваційністю, що розширює межі наноаналізу роблячи його простіше й точніше;
  • швидкістю виконання задач, робить більше, робить розумніші, і все це в реальному часі;
  • гнучкістю проведення аналізу, проводить аналіз тим медом і в тому місці де вам зручно;
  • інтегрованістю з можливістю використання одного програмного забезпечення для аналізу з різними детекторами і для різних задач;

Особливості:

Система аналізу вибухових залишків AZtecGSR повністю відповідає ASTM E1588 – 10e1.

  • Швидка пропускна здатність аналізу за допомогою детекторів Ultim Max SDD та використання багатоядерної процесора для обробки 64-бітної архітектури
  • Автоматизований аналіз декількох зразків за один прохід
  • Автоматизоване підтвердження частинок вогнепальної зброї
  • Класифікації залишків для різних видів боєприпасів
  • Звіти про перевірку стабільності пучка SEM та роздільної здатності детектора EDS
  • Сумісний з великим діапазоном SEM
  • Гнучка конфігурація детекторів, з можливим вибором розміру активної зони від 10 ммдо 680 мм2

Програмне забезпечення AZtecGSR

Аналіз залишків вогнепальної зброї в SEM з AZtecGSR є швидким і точним: він дає відтворювані результати аналізу залишків вогнепальних зброї, поєднує простоту використання через керований робочий процес, з максимальною точністю, використовуючи новітні детектори Ultim Max та алгоритми Tru-Q®

Програмне забезпечення AZtecSteel

AZtecSteel – це автоматизований пакет аналізу сталевих включень, розроблений спеціально для аналізу та класифікації сталевих включень за допомогою енергодисперсного рентгенівського мікроаналізу (EDS) у скануючому електронному мікроскопі (SEM). Він виявляє, вимірює та аналізує включення, обробляє отримані дані набором стандартних методів і має функціонал для побудови складних потрійних діаграм.

Програмне забезпечення AZtec LayerProbe

AZtec LayerProbe – це захоплюючий програмний інструмент для аналізу тонких плівок у SEM. Опція для системи мікроаналізу AZtec EDS. LayerProbe – швидке, економічне програмне забезпечення, яке забезпечує велику роздільну здатність, значно кращу ніж спеціальні інструменти для вимірювання тонких плівок. Неруйнівний аналіз з можливістю дослідження товщини і складу декількох шарів в діапазоні від 2 нм до 2000 нм при бічній роздільній здатності до 200 нм.

Програмне забезпечення AZtecSynergy

AZtecSynergy забезпечує потужне рішення для одночасного збору даних EDS та EBSD. Усі інструменти для збору відмінних інтегрованих даних містяться в одному місці без складного переходу з одного навігатора до іншого. Фунціонал: кілька навігаторів; вибір фаз; подвійне захоплення зображення; автокалібрування.

Програмне забезпечення AZtec3D

AZtec3D поєднує можливість одночасного отримання та аналізу даних з детекторів EDS та EBSD з можливостями автоматизованого переходу на FIB-SEM. Висока якість даних в поєднанні з Tru-I® і Tru-Q® в 3D. Фунціонал: оптимізоване отримання даних завдяки надшвидкому EBSD та SDD великої площі; виправлення дрейфу AZtec AuoLock; можливість відслідковувати збір та картування даних з детекторів EDS та EBSD.

Програмне забезпечення AZtecMineral

AZtecMineral потужне, автоматизоване рішення з аналізу корисних копалин. Це дозволяє охарактеризувати руду, надає важливі дані про відновлення металу та дозволяє характеризувати вихід технологічного процесу за допомогою багатофункціонального SEM. Є цінним інструментом для характеристики гірських порід у дослідницьких середовищах, що дозволяє автоматизувати різні трудомісткі оптичні аналізи.

Програмне забезпечення AZtecAM

AZtecAM потужне, автоматизоване рішення для аналізу металевих порошків, що використовуються у виробництві добавок. На основі AZtecFeature, AZtecAM оптимізує робочий процес аналізу частинки, щоб забезпечити швидку та точну характеристику металевих порошків. AZtecAM ідеально підходить для виявлення та ідентифікації забруднень у порошках, характеристики морфології порошкового зерна та поглибленого дослідження окремих зерен – надаючи всю необхідну інформацію для того, щоб процес виробництва та внесення добавок залишався на якісно високому рівні.

Програмне забезпечення AZtecHKL

AZtecHKL найпотужніше доступне програмне забезпечення для детекторів EBSD, поєднує в собі швидкість та точність отримання результатів для рутинного аналізу, з гнучкістю та потужністю, необхідною для додатків EBSD. Удосконалене програмне забезпечення EBSD з отриманням та аналізом даних – все в режимі реального часу. Розкриває потенціал першого у світі CMOS-детектора EBSD, Symmetry

Програмне забезпечення AZtecICE

AZtecICE має всі необхідні інструменти для обробки та аналізу даних отриманих з детектора EBSD та гарантує високу якість отримання всіх результатів. Бездоганно інтегрований з AZtecHKL або функціонуючий як окрема програма. Функціонал: оптимізація для швидкої обробки та великих наборів даних; інтуїтивно зрозумілий інтерфейс зі зручними режимами перегляду; повне відображення та аналіз карти та полюсів; вдосконалений інструментал для аналізу мікроструктури.

Програмне забезпечення INCAEnergy +

ІNCAEnergy забезпечує простоту поєднання роботи потужного детектора WDS з високою чутливості та роздільної здатності та високопродуктивного детектора EDS. Функціонал: якісний аналіз з відмінним піковим розділенням усіх рентгенівських піків; кількісний аналіз, включаючи точний аналіз мікроелементів; точне рентгенографічне відображення мінорних елементів та перекриття піків рентгенівських спектрів.

Програмне забезпечення INCAWave

INCAWave, забезпечує високу чутливості та гарну роздільної здатності WDS із підвищеною продуктивністю. INCAWave доповнює EDS, пропонуючи: відмінна сепарацію пікова; точний аналіз мікроелементів; оптимізоване виявлення елементів для низько- і високоенергетичного рентгенівського випромінювання; найкраща роздільна здатність при швидкому отриманні даних; точні карти, які не потребують додаткового уточнення після збору.

Якщо ви знайшли помилку, будь ласка, виділіть фрагмент тексту та натисніть Ctrl+Enter.

Повідомити про помилку

Текст, який буде надіслано нашим редакторам: