Сканувальний електронний мікроскоп Quattro ESEM

Сканувальний електронний мікроскоп Quattro ESEM

Cканувальний електронний мікроскоп Quattro ESEM від компанії Thermo Scientific поєднує в собі універсальні можливості аналізу та візуалізації з унікальним режимом навколишнього середовища (ESEM), що дозволяє вивчати зразки в їх природньому стані. Завдяки трьом режимам роботи вакуумної системи (високий вакуум, низький вакуум, ESEM) мікроскоп Quattro ESEM аналізує найширший спектр зразків з-поміж інших доступних SEM, включно з несумісними з вакуумом зразками (наприклад через виділення газів). Більше того, ESEM дає можливість проводити in situ аналіз зразків в природних умовах, таких як мокрі/ вологі, гарячі або реактивні середовища. Можливість одночасної SE та BSE візуалізації в усіх режимах роботи мікроскопа дозволяє отримати найбільш повну інформацію про кожен зразок.

Quattro ESEM є вдалим рішенням для широкого спектру промислових, академічних та державних лабораторій, що потребують простоти та універсальності аналізу, передбачають проведення мультидисциплінарних досліджень користувачами з різним досвідом роботи та шукають інструмент для проведення унікальних in situ експериментів.

Новації | мікроскоп
  • Роздільна здатність: до 0,8 нм при 30 кВ (SТEМ) при оптимальній робочій відстані в режимі високого вакууму
  • Діапазон струму пучка: від 1 пА до 200 нА
  • Діапазон прискорюючої напруги: 200 В – 30 кВ
  • Діапазон енергії падіння: 20 еВ – 30 кеВ з додатковим гальмуванням пучка
  • Збільшення: від 6 до 2 500 000×
  • Внутрішня ширина: 340 мм
  • Аналітична робоча відстань 10 мм
  • Кількість портів: 12
  • Кут виходу для детектора EDS: 35°
  • Можлива одночасне підключення трьох детекторів EDS, два під 180°
  • Копланарна EDS / EBSD, ортогонально осі нахилу столика
  • 9-ти контактне підключення для подачі струму на зразок

Quattro одночасно виявляє до чотирьох сигналів з будь-якої комбінації доступних детекторів або сегментів детектора:

  • Детектор вторинних електронів Еверхарта – Торнлі (ETD)
  • Детектор вторинних електронів для низького вакууму (LVD)
  • Газовий детектор SED (GSED) вторинних електронів для режиму ESEM
  • ІЧ-камера для візуального огляду зразка в робочій камері
  • Nav-Cam™: кольорова оптична навігаційна камера*
  • Висувний або монтований на лінзу сегментований підлінзовий детектор зворотньо-розсіяних електронів (DBS)*
  • Монтований на лінзу газовий аналітичний детектор зворотньо-розсіяних електронів (DBS-GAD)*
  • Висувний детектор для просвітлювальної мікроскопії з сегментами BS, 4 DF, 6 HADF (STEM 3+, лише для Quattro S SEM)*
  • Інтегрована в STEM платформа Пельтьє для спостереження за тонкими вологими зразками (WetSTEM™, лише для Quattro S SEM)
  • Детектор катодолюмінесценції для спостереження в натуральному кольорі (RGB-CLD)*
  • Внутрішньоколонний детектор для режиму уповільнення пучка (ICD, лише для Quattro S SEM)*
  • Вимірювання струму пучка*

* – опціонально

  • Турбомолекулярний насос 250 л/с
  • Форвакуумний насос
  • Два іонно-гетерних насоси
  • Час відкачки: ≤ 3,5 хв до високого вакууму, ≤ 3,5 хв до ESEM
 Quattro CQuattro S
ТипУстановлена на дверцята, високоточна 5-осьова моторизована платформа, з пʼєзоприводом осі XYRУстановлена на робочу камеру, ультра стабільна 5-осьова повністю пʼєзо моторизована платформа
XY55 x 55 мм110 x 110 мм
Відтворюваність
< 3,0 мкм (при нахилі 0°)
Моторизована Z
65 мм
Обертання
n x 360°
Нахил
-15°- +90°
Максимальна вага зразка
500 г при будь-якій позиції платформи (до 2 кг при нахилі 0°)
Максимальний розмір зразка
діаметр 122 мм при обертанні у всьому діапазоні (більші зразки допустимі при обмеженому переміщенні платформи чи обертанні)

Якщо ви знайшли помилку, будь ласка, виділіть фрагмент тексту та натисніть Ctrl+Enter.

Повідомити про помилку

Текст, який буде надіслано нашим редакторам: