Системи детектування EBSD від AMETEK та Oxford Instruments

Системи детектування EBSD від AMETEK та Oxford Instruments

Дифракція обернено розсіяних електронів (EBSD) – метод сканувальної електронної мікроскопії для вивчення кристалографічної структури матеріалів. В основі методу лежить аналіз дифракційної картини, утвореної електронами в результаті взаємодії стаціонарного електронного променю з нахиленим кристалічним зразком. Для реалізації методу дифракції обернено розсіяних електронів сканувальний електронний мікроскоп оснащують спеціальним EBSD детектором, що містить зокрема фосфоресцентний екран, компактний обʼєктив та камеру слабкого освітлення. Метод EBSD дозволяє проводити кількісний мікроструктурний аналіз у масштабі від міліметра до нанометра і є незамінним при ідентифікації фаз близького (або ідентичного) складу з різною будовою кристалічної гратки через неможливість розрізнення таких фаз методом енергодисперсійної рентгенівської спектроскопії.

Новації | Аналитические системи Oxford Instruments

Детектори EBSD (Hikari Super EBSD camera та Velocity™ EBSD Camera) від компанії EDAX AMETEK забезпечують високошвидкісне відображення EBSD картування з найвищими показниками індексації на реальних матеріалах. Поєднують в собі швидке отримання даних з високою чутливістю і низький рівень шуму, гарантуючи оптимальні умови для збору та якості даних.

Переваги:

  • Швидкість збору даних до 4500 індексованих точок за секунду
  • Збір даних EBSD проводяться за кілька хвилин
  • Картування з отриманням повних спектральних даних EDS одночасно з даними EBSD, що спрощує повторний аналіз і інтерпретацію результатів
  • Чітка характеризація деформованих мікроструктур із стандартним режимом індексування
 Hikari Super EBSD cameraVelocity™ EBSD Camera
Швидкість картування орієнтації з одночасним індексуванням1400 точок за секундуVelocity ™ Plus до 3000 точок за секунду
Velocity ™ Super до 4500 точок за секунду
Робоча прискорююча напруга5 кВ5 кВ
Точність орієнтаціїМенша ніж 0,1 без спеціальних корекційних процедурМенша ніж 0,1 без спеціальних корекційних процедур
Розмір зображення640 (В)х 480 (Ш) пікселів640 (В)х 480 (Ш) пікселів
(Роздільна здатність зображення з максимальною швидкістю індексації 120 x 120 пікселів)
Цифровий вихід12-бітний12-бітний
Сильфонне під’єднання до SEMТакТак

Серія детекторів EBSD (Symmetry, C-Swift, C-Nano) від компанії Oxford Instruments застосовується для одночасного аналізу структури, текстури і хімічного складу матеріалів.

Переваги:

  • Зручний і простий у використанні інтерфейс
  • Автоматичне калібрування детектора EBSD
  • Картування з отриманням повних спектральних даних EDS одночасно з даними EBSD, що спрощує повторний аналіз і інтерпретацію результатів
  • Унікальний датчик наближення – виявляє потенційні можливості зіткнення до того, як вони відбудуться, і автоматично переміщує детектор у безпечне положення
  • Революційно підвищує продуктивність: швидке налаштування, швидкий аналіз, швидка звітність
 SymmetryC-SwiftC-Nano
Швидкість картування орієнтації з одночасним індексуванням3000 точок за секунду при струмі пучка 12 нА1000 точок за секунду при струмі пучка 12 нА400 точок за секунду при струмі пучка 3 нА
Роздільна здатність зображення з максимальною швидкістю індексації156 x 128 пікселів156 x 128 пікселів312 x 256 пікселів
Розмір картинки1244 х 1024 пікселів622 x 512 пікселів1244 х 1024 пікселів
Оптиказ мінімальними спотворенням, кутова точність краща за 0,05 °з мінімальними спотворенням, кутова точність краща за 0,05 °°з мінімальними спотворенням, кутова точність краща за 0,05 °°
Сильфонне під’єднання до SEMТакТакТак

Якщо ви знайшли помилку, будь ласка, виділіть фрагмент тексту та натисніть Ctrl+Enter.

Повідомити про помилку

Текст, який буде надіслано нашим редакторам: