ЛАБОРАТОРІЯ
ІСТОРІЯ КОМПАНІЇ
КОНТАКТИ
MENU
MENU
Обладнання →
Аналізатори
документів та слідів рук
Аналіз документів
Відеоспектральний компаратор VSC
Cистема для експрес аналізу документів Eye-D®
Система експрес дослідження документів PD2000
Система ESDA для візуалізації втиснених написів
Система для швидкої перевірки паспортів VSC QC1
Аналіз слідів рук
Система DCS 5 для відображення відбитків пальців
Система Crime-lite Imager
Система виявлення латентних слідів рук RECOVER LFT
Ціаноакрилатні камери серії MVC
Аналізатори
питомої поверхні
Аналізатори питомої поверхні та пористості
JWGB 100/200/300/400
JWGB Vapor
JWGB Surface D
JWGB Densi 100
Електронна мікроскопія
Растрові електронні мікроскопи
Apreo™ 2 SEM
Quattro ESEM
Verios™ XHR SEM
Prisma™ E SEM
Axia™ ChemiSEM
Quanta Inspect SEM
Volumescope2 SEM
Helios NanoLab Двопучкові системи
Scios Електронно-іонні мікроскопи
Аналітичні системи
EDS (AMETEK, Oxford Instruments)
EBSD (AMETEK, Oxford Instruments)
WDS (AMETEK, Oxford Instruments)
Програмне забезпечення (AMETEK, Oxford Instruments)
Просвітлюючі електронні мікроскопи
Krios G4 Cryo-TEM
Talos TEM
Themis TEM
Glacios 2 Cryo-TEM
Tundra Cryo-TEM
ІЧ та Раманівська спектрометрія
Раманівські спектрометри
TruScan GP/G3 (портативний)
FirstDefender (портативний)
TruNarc (портативний)
Foram3 (настільний)
1064Defender (портативний)
ІЧ Фур'є спектрометри
TruDefender (портативний)
БлІЧ-спектрометри
1700 (портативний, настільний)
Onsite-W (портативний)
Спектральний комплекс
Gemini (портативний)
FFTA (науково-дослідний)
NovationsRMS21 (мікроспектрометр)
Лазерні
аналізатори часток
Лазерна дифракція
Bettersizer 2600
Bettersizer ST
Bettersizer S3/S3 Plus
Динамічне світлорозсіяння
Bettersize BeNano 180/90 Zeta
Bettersize BeNano 180 Zeta Pro
Світлоблокування
Лічильник аєрозольних частинок AeroMon 4050NG (портативний)
Лічильники аєрозольних частинок AeroMon 4050RE-NG
Статичне світлорозсіяння
BeScan Lab
Аналізаторипорошків
PowderPro A1
PowderPro M1
On-lineсистеми
PAT-U, PAT-W (мікроспектрометри)
On-line BT-Online1
Головна Сторінка
»
apss 2000
Аналіз документів та відновлення відбитків
Аналіз документів
Аналіз речових доказів
Аналіз відбитків
Система виявлення латентних слідів рук
Аналіз форм та розмірів часток, білків і полімерів
Лазерні аналізатори розміру частинок
Аналізатори характеристик порошку
Аналізатори питомої поверхні та пористості
Лічильники частинок в повітрі
Методи аналізу. Аналізу форм та розміру часток
Використання (аерозолі, емульсії, порошки, суспензії)
ІЧ та Раманівська ідентифікація матеріалів
Аналізатори для аналізу сировини та готової продукції
Аналізатори для ідентифікації вибухових та наркотичних речовин
БлІЧ-аналізатори microNIR
Процесні БлІЧ-спектрометри
Методи аналізу
Використання
Мікро-Фур’є Спектрометри
Інфрачервоний Фур’є спектрометр Novations FTIR
Електронна мікроскопія
Растрові електронні мікроскопи FEI
Просвітлюючі електронні мікроскопи FEI
Електронно-іонні мікроскопи (двопучкові системи)
Аналітичні системи Oxford Instruments
Аналітичні системи AMETEK
Калібрування обладнання
Контакти
UA
(
UA
)