Компанія Новації представляє лінійку скануючих електронних мікроскопів Termo Scientific (FEI) з можливістю застосування їх як при поглиблених наукових досліджень так і для контролю якості зразків на виробництві напівпровідників. Вибирайте базову конфігурацією SEM Prisma E з гарантованим поділ до 2 нм або спеціалізований Verios XHR з граничною дозволом до 0,6нм.