Проводьте одночасний аналіз структури, текстури та орієнтацію кристалічної гратки матеріалів разом з детекторами EBSD та найпотужнішим програмним забезпеченям AZtecHKL. Картування з EBSD дозволяє визначити тип і орієнтацію кристалічної решітки локально в кожній точці зразка. Отримання та аналіз даних відбувається в режимі реального часу.
Детальну інформацію про методику виміру, детектори та програмне забезпечення дізнавайтесь в компанії Новації.
