ЛАБОРАТОРІЯ
ІСТОРІЯ КОМПАНІЇ
КОНТАКТИ
MENU
MENU
Аналізатори
документів та відбитків
Аналіз документів
Відеоспектральний компаратор VSC
Cистема для експрес аналізу документів Eye-D®
Система експрес дослідження документів PD2000
Система ESDA для візуалізації втиснених написів
Система для швидкої перевірки паспортів VSC QC1
Аналіз відбитків
Система DCS 5 для відображення відбитків пальців
Система Crime-lite Imager
Пробопідготовка
RECOVER LFT (Система виявлення латентних слідів рук)
Ціаноакрилатні камери серії MVC
Лазерні аналізатори
розміру та форми часток
Лазерна дифракція
Bettersizer 2600
Bettersizer ST
Bettersizer S3/S3 Plus (розмір і форма частинок)
On-line BT-Online1
Динамічне світлорозсіяння
Bettersize BeNano 180/90 Zeta
Bettersize BeNano 180 Zeta Pro
Світлоблокування
Лічильник аєрозольних частинок AeroMon 4050NG (портативний)
Лічильники аєрозольних частинок AeroMon 4050RE-NG
Газові аналізатори
питомої поверхні
Аналізатори питомої поверхні та пористості
JWGB 100
JWGB 200
JWGB 300
JWGB 400
JWGB Vapor
JWGB Surface D
Аналізатори порошків
PowderPro A1
PowderPro M1
ІЧ та Раманівська спектрофотометрія
Раманівські спектрометри
TruScan RM/GP (портативний)
FirstDefender (портативний)
TruNarc (портативний)
NovationsRMS21 (мікроспектрометр)
Foram3 (настільний)
1064Defender (портативний)
ІЧ Фур'є спектрометри
TruDefender (портативний)
Novations FTIR (мікроспектрометр)
БлІЧ-спектрометри
1700 (портативний, настільний)
Onsite-W (портативний)
PAT-U, PAT-W (мікроспектрометри)
Спектральний комплекс
Gemini (портативний)
FFTA (науково-дослідний)
Електронна мікроскопія
Растрові електронні мікроскопи FEI
Apreo™ 2 SEM
Quattro ESEM
Verios™ XHR SEM
Prisma™ E SEM
Axia™ ChemiSEM
Quanta Inspect SEM
Volumescope2 SEM
Просвітлюючі електронні мікроскопи FEI
Talos TEM
Themis TEM
Електронно-іонні мікроскопи (двопучкові системи)
Helios NanoLab Двопучкові системи
Scios Електронно-іонні мікроскопи
Аналітичні системи Oxford Instruments
EDS (енергодисперсійна рентгенівська спектроскопія)
EBSD (дифракція обернено розсіяних електронів)
WDS (рентгенівська спектроскопія хвилевої дисперсії)
Програмне забезпечення Oxford Instruments
Аналітичні системи AMETEK
EDS (енергодисперсійна рентгенівська спектроскопія)
EBSD (дифракція обернено розсіяних електронів)
WDS (рентгенівська спектроскопія хвилевої дисперсії)
Програмне забезпечення AMETEK
Кріоелектронні мікроскопи
Krios G4 Cryo-TEM
Glacios 2 Cryo-TEM
Tundra Cryo-TEM
Оптичні електронні компоненти (лазери)
Вакуумне обладнання
Головна Сторінка
»
БлИК-спектрометры
Аналіз документів та відновлення відбитків
Аналіз документів
Аналіз речових доказів
Аналіз відбитків
Система виявлення латентних слідів рук
Аналіз форм та розмірів часток, білків і полімерів
Лазерні аналізатори розміру частинок
Аналізатори характеристик порошку
Аналізатори питомої поверхні та пористості
Лічильники частинок в повітрі
Методи аналізу. Аналізу форм та розміру часток
Використання (аерозолі, емульсії, порошки, суспензії)
ІЧ та Раманівська ідентифікація матеріалів
Аналізатори для аналізу сировини та готової продукції
Аналізатори для ідентифікації вибухових та наркотичних речовин
БлІЧ-аналізатори microNIR
Процесні БлІЧ-спектрометри
Методи аналізу
Використання
Мікро-Фур’є Спектрометри
Інфрачервоний Фур’є спектрометр Novations FTIR
Електронна мікроскопія
Растрові електронні мікроскопи FEI
Просвітлюючі електронні мікроскопи FEI
Електронно-іонні мікроскопи (двопучкові системи)
Аналітичні системи Oxford Instruments
Аналітичні системи AMETEK
Калібрування обладнання
Контакти
UA
(
UA
)