Сканирующие электронные микроскопы Apreo™ 2 SEM

Сканирующие электронные микроскопы Apreo™ 2 SEM

Cканирующий электронный микроскоп Apreo 2 от компании FEI (Thermo Scientific) – второе поколение сканирующих электронных микроскопов с уникальной технологией, в которой сочетаются два метода формирования пучка в тонкий зонд: электромагнитные линзы и магнитная иммерсия. Электронная колонна с источником полевой эмиссии Шоттки обеспечивает стабильные высокие токи в сочетании с высоким разрешением. Такая особенность конструкции данного SEM позволяет получить разрешение до 1,0 нм при 1 кВ (без использования замедления пучка), а также выполнять энергетическую и зарядовую фильтрацию сигналов. Кроме этого второе поколение микроскопов Apreo поддерживает такие технологии как FLASH (автоматическая фокусировка на выбранной зоне в “один клик”, что работает для всех детекторов имеющихся в системе), ColorSEM (количественный элементный анализ образцов с помощью EDS в режиме реального времени с построением элементной карты ), а также уникальную систему внутреннелинзовых (T1, T2) и внутреннеколонных (Т3) детекторов обратно рассеянных электронов, обеспечивающих повышенный уровень поверхностной детализации и контрастности снимков.

Все описанные преимущества делает Apreo 2 SEM удобной платформой для исследований наночастиц, катализаторов, порошков и наноустройств, без влияния на магнитные свойства образцов. Продажа от официального дистрибьютора в Украине компании Новации.

– Разрешение в режиме высокого вакуума:

  • 0.8 нм при 1 кВт и режимом замедления эл. пучка;
  • 0.5 нм при 15 кВт и режимом замедления эл. пучка;
  • 0.7 нм при 30 кВт (STEM-детектор) *

– Разрешение в режиме низкого вакуума (при 30 Па):

  • 1.8 нм при 3 кВт;
  • 1.2 нм при 15 кВт.

Диапазон тока пучка от 1 пА до 400 нА.
Диапазон ускоряющего напряжения 200 В – 30 кВ.

* опционально

  • Ширина: 340 мм.
  • Аналитическая дистанция: 10 мм.
  • Количество портов: 12.
  • Угол выхода для детектора EDS: 35 °.
  • Возможность одновременного подключения 3х детекторов EDS.

Тройная система детектирования (внутрилинзовая и внутриколонная);
Т1 – нижний внутрилинзовый детектор, разделенный на сегменты;
Т2 – верхний ввнутрилинзовый детектор;
T3 – детектор внутри колонны.
ETD – детектор вторичных электронов.
DBS – выдвижной сегментированный детектор обратно-рассеянных электронов.
Детектор вторичных электронов для низкого вакуума.
DBS-GAD, монтируемый на линзу газового аналитического детектору возвратно-рассеянных электронов
STEM 3+ – выдвижной сегментирован детектор для просвитлювальнои микроскопии (BS, DF, HADF, HAADF).
ИК камера для контроля образцов.
Nav-Cam + цифровая камера для простоты манипуляции с образцом.

  • Безмасляная вакуумная система.
  • 1х240 л / с ТМП (турбомолекулярный насос).
  • 1хPVP (форвакуумный насос).
  • Два ионно-геттерних насоса.
  • Уровень вакуума в камере (высокий) <6,3х10- 6 мбар (после 12:00 откачки).
  • Время откачки: ≤3,5 мин.
  • Режим низкого вакуума (опционально).
  • Давление в камере при низком вакууме от 10 до 500 Па.

Эвцентричная гониометрическая платформа, моторизованная по 5 осям:

  • XY (диапазон подвижности): 110 x 110 мм;
  • Z (диапазон подвижности): 65 мм;
  • Вращение: n x 360 °
  • Наклон: от -15 до + 90 °
  • Максимальная высота образца: 85 мм до эвцентричной точки;

Максимальная масса образца: 500 г в любом положении, до 5 кг при отсутствии наклона

Максимальный размер образца: 122 мм (диаметр) с сохранением подвижности по всем осям.

Если вы нашли ошибку, пожалуйста, выделите фрагмент текста и нажмите Ctrl+Enter.

Сообщить об опечатке

Текст, который будет отправлен нашим редакторам: