Система детектування EDS від AMETEK

Система детектування EDS від AMETEK

Серія детекторів EDS рентгенівської енергодисперсійної спектроскопії від компанії EDAX AMETEK забезпечує потужний аналітичний потенціал у компактному пакеті, максимальну продуктивність та гнучкість, дозволяючи при цьому спрощену роботу, швидкі результати та простоту використання. Поєднання кремнієвого-детектора (SDD) із зручним для користувачів програмним забезпеченням APEX забезпечує повне рішення для всіх рівнів аналізу та високої продуктивності роботи.

Метод енергодисперсійної рентгенівської спектроскопії (EDS) – методика елементного аналізу твердої речовини. Використовуючи електронний мікроскоп (SEM чи TEM) для збудження електронним пучком атомів у досліджуваному зразку, отримуємо спектр характерного рентгенівського випромінювання. Аналіз спектру такого випромінювання дозволяє робити висновки про якісний та кількісний склад зразка.

Купити детектори EDS від компанії EDAX AMETEK, які представлені наступним модельним рядом: Element EDS System, Octane Elite EDS System, Octane Elect EDS System. Оптимізована електроніка та конструкція детекторів SDD для отримання стабільної енергії при високій швидкості збору даних.

  • Швидка обробка імпульсів для відображення та кількісного визначення.
  • Оптимізована якість даних при всіх швидкостях підрахунку.
  • Кількісний аналіз високої роздільної здатності зі швидкістю відображення більше 300 000 фотонів в секунду.
  • Оптимізована конструкція для виявлення легких елементів.
 Element EDS SystemOctane Elite EDS SystemOctane Elect EDS System
Активна площа кристала30 мм2Plus (30 мм2)
Super (70 мм2)
Plus (30 мм2)
Super (70 мм2)
Наявність просвітлених вікон (підвищення чутливості виявлення легких елементів)Вікно з нітриду кремнію Si3N4Вікно з нітриду кремнію Si3N4Вікно з нітриду кремнію Si3N4
Гарантовані характеристики розділення за енергією129еВ, Mn Кα
і 10000 CPS
125еВ, Mn Кα
і 10000 CPS
123еВ додаткова функція
127еВ, Mn Кα
і 10000 CPS
Модуль герметично закритий під вакуумомТакТакТак
Слайдер (керування рухом детектора при занадто великому потоці електронів на малих збільшеннях)Фіксований або ручнийФіксований або ручнийФіксований або ручний
Кількісний аналіз> 300 000 CPS> 850 000 CPS> 700 000 CPS
Рентгенографічне картування> 1 000 000 CPS> 2 000 000 CPS> 1 600 000 CPS
Діапазон виявленняBe до AmAl L (73 еВ) до AmAl L (73 еВ) до Am
ОхолодженняЕлемент ПельтьєЕлемент ПельтьєЕлемент Пельтьє

Якщо ви знайшли помилку, будь ласка, виділіть фрагмент тексту та натисніть Ctrl+Enter.

Повідомити про помилку

Текст, який буде надіслано нашим редакторам: