Система детектирования EDS от AMETEK

Система детектирования EDS от AMETEK

Серия детекторов EDS электроэнергетической дисперсионной спектроскопии от компании EDAX AMETEK обеспечивает мощный аналитический потенциал в компактном пакете, максимальную производительность и гибкость, позволяя при этом упрощенную работу, быстрые результаты и простоту использования. Сочетание кремниевого детектора (SDD) с удобным программным обеспечением APEX обеспечивает полное решение для всех уровней анализа и высокой производительности работы.

Энергодисперсионная рентгеновская спектроскопия (EDS) – методика элементного анализа твердого вещества. Используя электронный микроскоп (SEM или TEM) для возбуждения электронным пучком атомов в исследуемом образце, получаем спектр характерного рентгеновского излучения. Анализ спектра такого излучения позволяет делать выводы о качественном и количественном составе образца.

Купить детекторы EDS от компании EDAX AMETEK, которые представлены следующим модельным рядом: Element EDS System, Octane Elite EDS System, Octane Elect EDS System. Оптимизированная электроника и конструкция детекторов SDD для получения стабильной энергии при высокой скорости сбора данных.

  • Быстрая обработка импульсов для отображения и количественного определения.
  • Оптимизированое качество данных при всех скоростях подсчета.
  • Количественный анализ высокого разрешения со скоростью отображения более 300 000 фотонов в секунду.
  • Оптимизированная конструкция для выявления легких элементов.
 Element EDS SystemOctane Elite EDS SystemOctane Elect EDS System
Активная площадь кристалла30 мм2Plus (30 мм2)
Super (70 мм2)
Plus (30 мм2)
Super (70 мм2)
Наличие просветленных окон (повышение чувствительности обнаружения легких элементов)Окно из нитрида кремния Si3N4Окно из нитрида кремния Si3N4Окно из нитрида кремния Si3N4
Гарантированные характеристики разделения по энергии129еВ, Mn Кα
и 10000 CPS
125еВ, Mn Кα
и 10000 CPS
123еВ дополнительная функция
127еВ, Mn Кα
и 10000 CPS
Модуль герметично закрыт под вакуумомДаДаДа
Слайдер (управление движением детектора при слишком большом потоке электронов на малых увеличениях)Фиксированный или ручнойФиксированный или ручнойФиксированный или ручной
Количественный анализ> 300 000 CPS> 850 000 CPS> 700 000 CPS
Рентгенографическое картирование> 1 000 000 CPS> 2 000 000 CPS> 1 600 000 CPS
Диапазон обнаруженияBe до AmAl L (73 еВ) до AmAl L (73 еВ) до Am
ОхлаждениеЭлемент ПельтьеЭлемент ПельтьеЭлемент Пельтье

Если вы нашли ошибку, пожалуйста, выделите фрагмент текста и нажмите Ctrl+Enter.

Сообщить об опечатке

Текст, который будет отправлен нашим редакторам: