Застосування
Атомно-силовий мікроскоп (AFM)
Великий діапазон (до 100x100x10μm) та можливість досліджувати великі зразки (до 100 мм у діаметрі)
Сканування: зондом/за зразком
Інтегрована оптична відеосистема
Роздільна здатність позиціонування: 5 мкм
Оптична роздільна здатність: до 1 мкм
Конфокальний мікроскоп
Спектральні PMT-детектори
Спектральний діапазон: ~400-850 нм
Максимальна роздільна здатність сканування: 4096 × 4096 px
Швидкість сканування: до 2000 ліній/с
Зум: 1× – 32×