Новації – аналітичне обладнання | Розробка аналітичних методів дослідження

Растрові електронні мікроскопи FEI

Растрові електронні мікроскопи FEI

Скануючі Електронні Мікроскопи (SEM) представлені лінійкою обладнання від компанія Thermo Scientific (в попередні роки компанія FЕI). Це швидкі, ефективні і універсальні SEM з гарними характеристиками, що користуються попитом у світі.

SEM дозволяє одержувати зображення поверхні зразка шляхом сканування його сфокусованим пучком електронів. Взаємодія електронів з атомами зразка створює сигнали, що несуть інформацію про рельєф поверхні, склад і структуру об’єкта дослідження. Електронна гармата може бути як термоемісійного типу з вольфрамовою ниткою, так і автоемісійним джерелом (наприклад джерело польової емісії Шоттки). В залежності від використання детекторів для реєстрації сигналу виділяють декілька режимів роботи SEM: відбиті електрони, вторинні електрони, катодолюмінесценція і інші.

Застосування SEM

Растрові мікроскопи є необхідним інструментом для проведення досліджень у фізиці, біології, електроніці, матеріалознавстві, нанотехнологіях для отримання зображення поверхні та приповерхневої області зразка. Також вони можуть використовуватись для контролю якості зразків та у криміналістичній експертизі для вивчення слідів пострілу.

Ключові переваги

При застосування даних SEM досягається роздільна здатність від декількох нанометрів до субнанометрового діапазону (гранична роздільна здатність до 0,6 нм).

Наявність високовакуумної платформи з підігрівом (High Vacuum Heating Stage) дозволяє проводити спостереження чистих зразків при високій температурі.

Завдяки AutoScript користувачі можуть легко запрограмувати сканування зображення та рух предметної платформи в автоматичному режимі.

Технологія відкачування ЕSEM дозволяє моделювати середовище для аналізу складних зразків зазвичай не придатних для електронної мікроскопії.

Скануючі електронні мікроскопи Apreo™ 2 SEM

Скануючі електронні мікроскопи Quattro ESEM

Скануючі електронні мікроскопи Verios™ XHR SEM

Скануючі електронні мікроскопи Axia ChemiSEM

Скануючі електронні мікроскопи Prisma™ E SEM

Якщо ви знайшли помилку, будь ласка, виділіть фрагмент тексту та натисніть Ctrl+Enter.

Exit mobile version