Сканувальні електронні мікроскопи SEM4000Х

• Висока роздільна здатність
• Багатодетекторна технологія
• Спрощене юстування
• Створено на платформі вищого класу
• Технологія режиму ультра-сповільнення пучка
• Відмінна можливість розширення

Електронна оптика
Висока роздільна здатність: 1.9 нм при 1.0 кВ, з можливістю подальшого покращення за допомогою режиму ультра-променевого уповільнення.
Вбудований детектор (UD): Здатний виявляти як вторинні (SE), так і зворотньо-розсіяні (BSE) електрони для отримання високоякісних зображень.
Детектор у камері (LD): Використовує кристалічні сцинтилятори та фотопомножувачі для вищої чутливості, що дозволяє створювати стереоскопічні зображення чудової якості.

Аналіз частинок та пор (опційно)
Програмне забезпечення мікроскопа СЕМ від CIQTEK використовує різноманітні алгоритми виявлення та сегментації об’єктів, що підходять для різних типів зразків частинок та пор. Воно дозволяє проводити кількісний аналіз статистичних даних про частинки та пори і може застосовуватися в таких галузях, як матеріалознавство, геологія та наука про навколишнє середовище.

Програмне забезпечення для постобробки зображень
Дозволяє виконувати онлайн- або офлайн-постобробку зображень, отриманих електронними мікроскопами, та об’єднує в собі поширені функції обробки зображень для ЕМ, а також зручні інструменти для вимірювання та анотування.

Автоматичне вимірювання (опційно)
Автоматичне розпізнавання країв ліній, що забезпечує більш точні вимірювання та вищу узгодженість результатів. Підтримує кілька режимів виявлення країв, таких як Лінія (Line), Проміжок (Space), Крок (Pitch) тощо. Сумісне з багатьма форматами зображень та оснащене різноманітними поширеними функціями постобробки. Програмне забезпечення є простим у використанні, ефективним та точним.

Комплект для розробки програмного забезпечення (опційно)
Надає набір інтерфейсів для керування мікроскопом СЕМ, включно з отриманням зображень, налаштуванням робочих умов, увімкненням/вимкненням живлення, керуванням предметним столиком тощо. Лаконічні визначення інтерфейсів дозволяють швидко розробляти спеціалізовані скрипти та програмне забезпечення для керування електронним мікроскопом, уможливлюючи автоматичне відстеження окремих областей (regions of interest), збір даних для промислової автоматизації, корекцію дрейфу зображення та інші функції. Може використовуватися для розробки ПЗ у спеціалізованих галузях, таких як перевірка домішок у сталі, аналіз чистоти, контроль сировини тощо.

Автоматичне картування (опційно)