Сканувальні електронні мікроскопи SEM3300

• Подолання межі роздільної здатності для СЕМ з вольфрамовою ниткою розжарювання
• Внутрішньолінзовий електронний детектор
• Комбінована електромагнітна та електростатична об’єктивна лінза
• Підвищена безпека використання
• Відмінна можливість розширення

Внутрішньолінзовий електронний детектор
«Супертунельна» оптика зменшує аберації для підвищення роздільної здатності, особливо за низьких напруг, до того внутрішньолінзові детектори ефективніше захоплюють вторинні електрони, розміщуючи їх в електронному стовпі для вищої ефективності детектування та якості зображення. Разом ці технології дозволяють отримувати чіткіші та детальніші зображення та розширюють межі роздільної здатності звичайних СЕМ.

Оптична навігація
Використання вертикально встановленої камери зразків для фіксації оптичних зображень для навігації предметного столика дозволяє позиціонувати зразок більш інтуїтивно та точно.

Автоматичні функції
Покращені функції автоматичної яскравості та контрастності, автоматичного фокусування та автоматичної корекції астигматизму. Отримання зображення в один клік!
Автоматичне фокусування
Автоматична корекція астигматизму
Автоматична яскравість та контрастність.

Безпека використання
Інфрачервона ПЗЗ-камера (CCD) Моніторинг руху всередині камери в реальному часі за допомогою технології розпізнавання зображень та захоплення руху.
Запобігання зіткненням (Програмне забезпечення) Введення висоти зразка вручну для точного визначення відстані між зразком та об’єктивом для запобігання зіткненням.
Запобігання зіткненням (Апаратне забезпечення) Вимкнення живлення двигуна предметного столика в момент зіткнення для мінімізації пошкоджень.

Легка заміна нитки розжарювання
Попередньо від’юстований змінний модуль нитки розжарювання, готовий до використання.

Аналіз частинок та пор (опційно)
Програмне забезпечення мікроскопа СЕМ від CIQTEK використовує різноманітні алгоритми виявлення та сегментації об’єктів, що підходять для різних типів зразків частинок та пор. Воно дозволяє проводити кількісний аналіз статистичних даних про частинки та пори і може застосовуватися в таких галузях, як матеріалознавство, геологія та наука про навколишнє середовище.

Програмне забезпечення для постобробки зображень
Дозволяє виконувати онлайн- або офлайн-постобробку зображень, отриманих електронними мікроскопами, та об’єднує в собі поширені функції обробки зображень для ЕМ, а також зручні інструменти для вимірювання та анотування.

Автоматичне вимірювання (опційно)
Автоматичне розпізнавання країв ліній, що забезпечує більш точні вимірювання та вищу узгодженість результатів. Підтримує кілька режимів виявлення країв, таких як Лінія (Line), Проміжок (Space), Крок (Pitch) тощо. Сумісне з багатьма форматами зображень та оснащене різноманітними поширеними функціями постобробки. Програмне забезпечення є простим у використанні, ефективним та точним.

Комплект для розробки програмного забезпечення (опційно)
Надає набір інтерфейсів для керування мікроскопом СЕМ, включно з отриманням зображень, налаштуванням робочих умов, увімкненням/вимкненням живлення, керуванням предметним столиком тощо. Лаконічні визначення інтерфейсів дозволяють швидко розробляти спеціалізовані скрипти та програмне забезпечення для керування електронним мікроскопом, уможливлюючи автоматичне відстеження окремих областей (regions of interest), збір даних для промислової автоматизації, корекцію дрейфу зображення та інші функції. Може використовуватися для розробки ПЗ у спеціалізованих галузях, таких як перевірка домішок у сталі, аналіз чистоти, контроль сировини тощо.

Автоматичне картування (опційно)