Сканувальні електронні мікроскопи SEM3200

• Видатна продуктивність при низькій напрузі
• Двоханодна електронна гармата
• Режим низького вакууму
• Інтелектуальна корекція астигматизму зображення
• Попередньо від’юстована вольфрамова нитка розжарювання
• Відмінна можливість розширення

Двоханодна конструкція електронної гармати (додатково)
Проміжний анод встановлюється між катодним вузлом та анодом. При низькій напрузі збудження ефективність екстракції електронного пучка може бути покращена, роздільна здатність збільшена на 10%, а співвідношення сигнал-шум — на 30%.
Для зразків вуглецевих матеріалів, при низькій напрузі збудження, глибина проникнення пучка є неглибокою, що дозволяє фіксувати справжню морфологічну інформацію поверхні з чіткішими деталями зразка.
Для зразків полімерних волокон висока напруга збудження спричиняє пошкодження зразка променем, тоді як промінь низької напруги дозволяє зберегти деталі поверхні без пошкоджень.

Режим СЕМ низького вакууму
Сканувальний електронний мікроскоп CIQTEK SEM3200 підтримує 2 режими низького вакууму: тиск у камері 5~180 Па може бути досягнутий без апертури обмеження тиску, а 180~1000 Па досягається з PLA (апертура обмеження тиску). Спеціально розроблена вакуумна камера об’єктива мінімізує середню довжину вільного пробігу електронів у низькому вакуумі та підтримує роздільну здатність на рівні 3 нм при 30 кВ.
Низький вакуум (5-180 Па)
Низький вакуум (180-1000 Па)
У режимі високого вакууму Детектор Низького Вакууму (LVD) безпосередньо преобразовує сигнал катодолюмінесценції, випромінюваний зразком, який можна фіксувати для отримання катодолюмінесцентних зображень, з одночасною візуалізацією з каналу BSED (детектора зворотньо-розсіяних електронів).

Оптична навігація
Використання вертикально встановленої камери зразків для фіксації оптичних зображень для навігації предметного столика дозволяє позиціонувати зразок більш інтуїтивно та точно.

Інтелектуальна корекція астигматизму зображення
У цьому режимі значення астигматизму по X та Y варіюється залежно від пікселів. Чіткість зображення максимізується при оптимальному значенні астигматизму, що дозволяє швидко налаштувати стигматор.

Автоматичні функції
Покращені функції автоматичної яскравості та контрастності, автоматичного фокусування та автоматичної корекції астигматизму. Отримання зображення в один клік!
Автоматичне фокусування
Автоматична корекція астигматизму
Автоматична яскравість та контрастність.

Безпека використання
Інфрачервона ПЗЗ-камера (CCD) Моніторинг руху всередині камери в реальному часі за допомогою технології розпізнавання зображень та захоплення руху.
Запобігання зіткненням (Програмне забезпечення) Введення висоти зразка вручну для точного визначення відстані між зразком та об’єктивом для запобігання зіткненням.
Запобігання зіткненням (Апаратне забезпечення) Вимкнення живлення двигуна предметного столика в момент зіткнення для мінімізації пошкоджень.

Легка заміна нитки розжарювання
Попередньо від’юстований змінний модуль нитки розжарювання, готовий до використання.

Аналіз частинок та пор (опційно)
Програмне забезпечення мікроскопа СЕМ від CIQTEK використовує різноманітні алгоритми виявлення та сегментації об’єктів, що підходять для різних типів зразків частинок та пор. Воно дозволяє проводити кількісний аналіз статистичних даних про частинки та пори і може застосовуватися в таких галузях, як матеріалознавство, геологія та наука про навколишнє середовище.

Програмне забезпечення для постобробки зображень
Дозволяє виконувати онлайн- або офлайн-постобробку зображень, отриманих електронними мікроскопами, та об’єднує в собі поширені функції обробки зображень для ЕМ, а також зручні інструменти для вимірювання та анотування.

Автоматичне вимірювання (опційно)
Автоматичне розпізнавання країв ліній, що забезпечує більш точні вимірювання та вищу узгодженість результатів. Підтримує кілька режимів виявлення країв, таких як Лінія (Line), Проміжок (Space), Крок (Pitch) тощо. Сумісне з багатьма форматами зображень та оснащене різноманітними поширеними функціями постобробки. Програмне забезпечення є простим у використанні, ефективним та точним.

Комплект для розробки програмного забезпечення (опційно)
Надає набір інтерфейсів для керування мікроскопом СЕМ, включно з отриманням зображень, налаштуванням робочих умов, увімкненням/вимкненням живлення, керуванням предметним столиком тощо. Лаконічні визначення інтерфейсів дозволяють швидко розробляти спеціалізовані скрипти та програмне забезпечення для керування електронним мікроскопом, уможливлюючи автоматичне відстеження окремих областей (regions of interest), збір даних для промислової автоматизації, корекцію дрейфу зображення та інші функції. Може використовуватися для розробки ПЗ у спеціалізованих галузях, таких як перевірка домішок у сталі, аналіз чистоти, контроль сировини тощо.

Автоматичне картування (опційно)