Система детектирования WDS Oxford Instruments

Система детектирования WDS Oxford Instruments

Метод рентгеновской спектроскопии волновой дисперсии (WDS) – аналитическая методика элементного анализа твердых веществ, основанный на анализе максимумов за их размещением (длины волны эмиссии) и интенсивностью ее рентгеновского спектра. С помощью WDS методики, при исследовании объектов в сканирующем электронном микроскопе (SEM), возможно количественно и качественно определять элементы начиная с Бериллия.

Энергетический спектр рентгеновского излучения, полученный от возбужденных электронным лучом атомов, раскладывают с помощью дифракции на кристаллах по различным участкам в зависимости от длины волны. При этом для анализа спектрометр настроен только на одну длину волны и только одного элемента. Такая методика дает на порядок более высокую чувствительность и спектральную разрешение чем метод EDS. Однако WDS уступает EDS в скорости анализа всего образца, ведь невозможно промерять сразу весь рентгеновский спектр, так что нет возможности быстрого одновременного анализа всех элементов, имеющихся в объекте.

  • Микроанализ примерно в десяти раз более чувствителен по сравнением с EDS.

  • Анализ элементов-примисей (<0,1 – <0,01%).
  • Спектральное разделение примерно на порядок лучше всего EDS.
  • Возможно разделение близко расположенных пиков.
  • Точная идентификация пиков.
  • Лучшая чувствительность при анализа легких элементов.
  • Картирование с лучшим соотношением пик / фотон.

Купить детекторы Wave 500 и 700 от компании Oxford Instruments – лучшие в своем модельном ряду рентгеновской спектроскопии волновой дисперсии (WDS), специально сконструированные для точного количественного анализа при установке SEM

Wave 500Wave 700
Полностью сфокусирована спектрометр с радиусом окружности Роуланда 210мм и диапазоном углов 2-тета гониометра от 33 до 135 градусов
Наклонная геометрия для снижения эффекта расфокусировки при изменении рабочего расстояния микроскопа до +/- 1мм - не нужно оптический микроскоп для точной фокусировки спектрометра
Четыре дифракционных кристалла в управляемой компьютером 6-ти позиционной моторизованной турели. Изменение кристаллов в любой позиции. Обеспечивает анализ любых элементов от бора.Пять дифракционных кристаллов в управляемой компьютером 6-ти позиционной моторизованной турели. Изменение кристаллов в любой позиции. Обеспечивает анализ любых элементов от бериллия.
Кристалл2d, нмДиапазон энергий, КэВТипКристалл2d, нмДиапазон энергий, КэВТип
LiF0.4026710.84-3.33ЙохансонаLiF0.4026710.84-3.33Йохансона
PET0.87424.99-1.54ЙохансонаPET0.87424.99-1.54Йохансона
TAP2.5751.70-0.52ЙохансонаTAP2.5751.70-0.52Йохансона
LSM80N7.80.56-0.17ЙохансонаLSM606.00.73-0.22Йохансона
LSM20019.70.22-0.07Йохансона
В турель можно установить дополнительные кристаллы на выбор
Воспроизводимость позиции по длине волны +/- 0.000014нм для кристалла LiF (200)
Смонтированы тандемом проточный и запаянный газовые пропорциональные счетчики
Контрольований комп'ютером мотор для управління шириною приймальної щілини перед детекторами
Контролируемый компьютером мотор для изменения позиции щели перед детекторами
Интерфейс для SEM, включая моторизованный шлюз для отсечения вакуумной камеры микроскопа от камеры спектрометра, контролируемый компьютером

Если вы нашли ошибку, пожалуйста, выделите фрагмент текста и нажмите Ctrl+Enter.

Сообщить об опечатке

Текст, который будет отправлен нашим редакторам: