Система детектирования WDS Oxford Instruments
Метод рентгеновской спектроскопии волновой дисперсии (WDS) – аналитическая методика элементного анализа твердых веществ, основанный на анализе максимумов за их размещением (длины волны эмиссии) и интенсивностью ее рентгеновского спектра. С помощью WDS методики, при исследовании объектов в сканирующем электронном микроскопе (SEM), возможно количественно и качественно определять элементы начиная с Бериллия.
Энергетический спектр рентгеновского излучения, полученный от возбужденных электронным лучом атомов, раскладывают с помощью дифракции на кристаллах по различным участкам в зависимости от длины волны. При этом для анализа спектрометр настроен только на одну длину волны и только одного элемента. Такая методика дает на порядок более высокую чувствительность и спектральную разрешение чем метод EDS. Однако WDS уступает EDS в скорости анализа всего образца, ведь невозможно промерять сразу весь рентгеновский спектр, так что нет возможности быстрого одновременного анализа всех элементов, имеющихся в объекте.

-
Микроанализ примерно в десяти раз более чувствителен по сравнением с EDS.
- Анализ элементов-примисей (<0,1 – <0,01%).
- Спектральное разделение примерно на порядок лучше всего EDS.
- Возможно разделение близко расположенных пиков.
- Точная идентификация пиков.
- Лучшая чувствительность при анализа легких элементов.
- Картирование с лучшим соотношением пик / фотон.
Купить детекторы Wave 500 и 700 от компании Oxford Instruments – лучшие в своем модельном ряду рентгеновской спектроскопии волновой дисперсии (WDS), специально сконструированные для точного количественного анализа при установке SEM
Wave 500 | Wave 700 | ||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|
Полностью сфокусирована спектрометр с радиусом окружности Роуланда 210мм и диапазоном углов 2-тета гониометра от 33 до 135 градусов | |||||||
Наклонная геометрия для снижения эффекта расфокусировки при изменении рабочего расстояния микроскопа до +/- 1мм - не нужно оптический микроскоп для точной фокусировки спектрометра | |||||||
Четыре дифракционных кристалла в управляемой компьютером 6-ти позиционной моторизованной турели. Изменение кристаллов в любой позиции. Обеспечивает анализ любых элементов от бора. | Пять дифракционных кристаллов в управляемой компьютером 6-ти позиционной моторизованной турели. Изменение кристаллов в любой позиции. Обеспечивает анализ любых элементов от бериллия. | ||||||
Кристалл | 2d, нм | Диапазон энергий, КэВ | Тип | Кристалл | 2d, нм | Диапазон энергий, КэВ | Тип |
LiF | 0.40267 | 10.84-3.33 | Йохансона | LiF | 0.40267 | 10.84-3.33 | Йохансона |
PET | 0.8742 | 4.99-1.54 | Йохансона | PET | 0.8742 | 4.99-1.54 | Йохансона |
TAP | 2.575 | 1.70-0.52 | Йохансона | TAP | 2.575 | 1.70-0.52 | Йохансона |
LSM80N | 7.8 | 0.56-0.17 | Йохансона | LSM60 | 6.0 | 0.73-0.22 | Йохансона |
LSM200 | 19.7 | 0.22-0.07 | Йохансона | ||||
В турель можно установить дополнительные кристаллы на выбор | |||||||
Воспроизводимость позиции по длине волны +/- 0.000014нм для кристалла LiF (200) | |||||||
Смонтированы тандемом проточный и запаянный газовые пропорциональные счетчики | |||||||
Контрольований комп'ютером мотор для управління шириною приймальної щілини перед детекторами | |||||||
Контролируемый компьютером мотор для изменения позиции щели перед детекторами | |||||||
Интерфейс для SEM, включая моторизованный шлюз для отсечения вакуумной камеры микроскопа от камеры спектрометра, контролируемый компьютером |