Телефон
+38 044 333 91 39
Email
kontakt@novations.ua
RU
MENU
MENU
Анализ документов
и отпечатков
Анализ документов
Видеоспектральный компаратор VSC
Система для экспресс анализа документов Eye-D®
Система экспресс исследований документов PD 2000
Система ESDA для визуализации тесненных надписей
Система для быстрого анализа паспортов VSC QC1
Анализ вещественных доказательств
Рамановский микроспектрометр Foram
Система элементного анализа ECCO
Научно-исследовательский комплекс FFTA
Анализ отпечатков
Система для фиксации отпечатков пальцев DCS 5
Система для фиксации отпечатков пальцев Crime-lite Imager
Цианокрилатовая камера MVC
Анализ форм и
размеров частиц
Лазерные анализаторы размера и формы частиц
Анализатор размеров частиц NanoBrook Omni
Анализатор размера частиц и дзета-потенциала Bettersize BeNano 90 Zeta
Анализатор размера частиц Bettersizer 2600
Анализатор размера частиц Bettersizer ST
Анализатор размера и формы частиц
Bettersizer S3/S3 Plus
Анализатор размера частиц BT-Online1
Анализаторы характеристик порошка
Автоматический анализатор порошков PowderPro A1
Ручной анализатор порошков PowderPro M1
Анализаторы удельной поверхности и пористости
Анализаторы JWGB 100
Анализаторы JWGB 200
Анализаторы JWGB 300
Высокоэффективные анализаторы JWGB 400
Статико-объемные анализаторы сорбции пара JWGB Vapor
Анализаторы удельной поверхности JWGB Surface D
Анализаторы истинной плотности
Методы анализа
Электрофоретическое рассеяния
Динамическое светорассеяния
Лазерная дифракция
Статическое светорассеяния
Статико-объемный метод для определения удельной поверхности и пористости порошков путем физисорбции
Метод газовой пикнометрии для измерения истинной плотности
Использование (аэрозоли, эмульсии, порошки, суспензии)
Он-лайн контроль размера порошков, суспензий и эмульсий при производстве
Анализ грунтов ( гранулометрический анализ )
Анализ стабильности коллоидов, суспензий и эмульсий
Определение размера и количества наночастиц, коллоидов, липомы и экзосом
Определение размера частиц спреев, аэрозолей, ингаляторов
Определение размера эмульсий
Определение размера, формы и химического состава порошков и суспензий
Разветвленность и конформация
Дзета-потенциал / поверхностный заряд белков
Изучение процессов связывания белков и конъюгации
Стабильность, агломерация и олигомеризация
Структура и конформация
Молекулярно-массовое распределение
Абсолютная молекулярная масса и размер молекул
ИК и рамановская
спектроскопия
Спектрометры для анализа сырья и готовой продукции
Рамановские спектрометры TruScan
Спектрометр TruScan GP
Спектрометр TruScan RM
Спектрометры для идентификации неизвестных веществ
Gemini
FirstDefender
TruDefender
TruNarc
БлИК-спектрометры microNIR
microNIR Pro 1700
microNIR Onsite-W
Методы анализа
Рамановская спектроскопия для быстрой идентификации карбонатных минералов
БлІЧ-спектроскопия
FTIR-спектроскопия
Использование
Использование БлИК-спектроскопии для исследования полимерных материалов
Таможенный и пограничный контроль, авиабезопасности
Идентификация неизвестных и взрывчатых веществ, наркотиков, прекурсоров
Определение параметров качества входящего сырья и готовой продукции в сельскохозяйственной и пищевой промышленности
Онлайн мониторинг процессов
Контроль качества готовой продукции
Анализ индивидуальных веществ и смесей
Выявление контрафактной продукции
Входной контроль качества сырья
Процессные БлИК-спектрометры
Анализатор microNIR PAT-U
БлИК-спектрометр microNIR PAT W
Электронная
микроскопия
Сканирующие электронные микроскопы FЕI
Сканирующие электронные микроскопы Apreo™ 2 SEM
Сканирующий электронный микроскоп Quattro ESEM
Сканирующий электронный микроскоп Verios™ XHR SEM
Сканирующий электронный микроскоп Prisma™ E SEM
Сканирующие электронные микроскопы Axia™ ChemiSEM
Просвечивающие электронные микроскопы FEI
Трансмиссионные электронные микроскопы Talos TEM
Трансмиссионные электронные микроскопы Themis TEM
Электронно-ионные микроскопы (двухлучевые системы)
Двупочковые системы Helios NanoLab
Электронно-ионные микроскопы Scios
Аналитические системы Oxford Instruments
Система детектирования EDS Oxford Instruments
Система детектирования EBSD Oxford Instruments
Система детектирования WDS Oxford Instruments
Программное обеспечение Oxford Instruments
Аналитические системы AMETEK
Система детектирования EDS от AMETEK
Система детектирования EBSD от AMETEK
Система детектирования WDS от AMETEK
Програмное обеспечение AMETEK
Внедрение
РАТ и услуги
Внедрение РАТ
Измерение частиц в воздухе и жидкостях
Системы онлайн мониторинга помещений
Измерение частиц в жидкостях
Классификация чистых помещений
Квалификация чистых помещений согласно ISO
Системы онлайн мониторинга чистых помещений
Разработка и валидация методов исследования
Физико-химические исследования
Гранулометрический состав
Ремонт и обслуживание оборудования
Калибровка оборудования
Услуги по калибровке счетчиков аэрозольных частиц
Нормативные требования к калибровке счетчиков частиц
Программныерешения
Система идентификации лиц LFIS Gemalto (Live Face Identification System, биометрическая система распознавания лиц) – Thales Group
Отраслевые решения
Решения для государственной безопасности
Решения для транспортной инфраструктуры
Решения для корпоративной безопасности
Решения для форс мажорных ситуаций, COVID-19
Cтруктура системы
Подсистема LFIS Watch
Подсистема LFIS Verify
Подсистема LFIS Search Expert
Подсистема LFIS Mobile
Подсистема LFIS SDK
Промышленная группа Thales Group
Про Thales Group
Партнерство
Вакуум
Главная страница
»
Рамановская спектроскопия
Анализ документов и восстановление отпечатков
Анализ документов
Анализ вещественных доказательств
Анализ отпечатков
Анализ форм и размеров частиц, белков и полимеров
Лазерные анализаторы размера частиц
Анализаторы характеристик порошка
Счетчики частиц в воздухе
Методы анализа
Использование (аэрозоли, эмульсии, порошки, суспензии)
ИК и рамановская идентификация материалов
Спектрометры для анализа сырья и готовой продукции
Спектрометры для идентификации неизвестных веществ
БлИК-спектрометры microNIR
Процессные БлИК-спектрометры
Методы анализа спектроскопии
Использование
Электронная микроскопия
Сканирующие электронные микроскопы FЕI
Просвечивающие электронные микроскопы FEI
Электронно-ионные микроскопы (двухлучевые системы)
Аналитические системы Oxford Instruments
Аналитические системы AMETEK
Внедрение РАТ и услуги
Внедрение РАТ
Измерение частиц в воздухе и жидкостях
Системы онлайн мониторинга чистых помещений
Разработка и валидация методов исследования
Физико-химические исследования
Ремонт и обслуживание оборудования
Калибровка оборудования
Система идентификации лиц LFIS Gemalto
Контакты
RU
(
RU
)
