Система детектирования EDS Oxford Instruments

Система детектирования EDS Oxford Instruments

Энергодисперсионный рентгеновская спектроскопия (EDS) – метод исследования элементного состава твердых образцов, в основе которого лежит анализ энергии излучения в рентгеновском диапазоне.

Сфокусированным пучком электронов с заданной энергией возбуждаются атомы объекта исследования. Фиксируя, после возбуждения полученный рентгеновский спектр, и проанализировав его, получаем информацию качественного и количественного состава образца.

Метод EDS используют для исследования объектов в сканирующем или трансмиссионном электронном микроскопах (SEM и TEM).

Детекторы EDS Ultim Max и Ultim Extreme от компании Oxford Instruments это следующее поколение кремниевых дрейфовых детекторов (SDD), которые сочетают в себе большие размеры кристалов (до 170мм2) и Extreme Electronics (выявление рентгеновского излучения с низким уровнем шума), что обеспечивает беспрецедентную скорость и чувствительность.

  • Возможна работа при энергиях менее 2 кВ, позволяет получить пространственное разрешение ниже 10 нм в объемных образцах.
  • Гарантированные характеристики разделения по энергии (127эВ, Mn Кα)
  • Типичное разделение по энергии – 125эВ на линиях Mn Кα
  • Внешний диаметр трубки детекторов не зависит от площади кристаллов и позволяет максимально приблизиться к образцу – так же, как и с кристаллами малого диаметра.
  • Гарантированные характеристики разделение по энергии не зависят от площади кристаллов.
  • Определение любых элементов от лития (Li)
  • Не требуют жидкого азота для охлаждения – только подключение к электроэнергии
  • Охлаждение по первому требованию, за секунды
 Ultim MaxUltim Extrime
Активная площадь кристалла40 мм2, 65 мм2, 100мм2 і 170 мм2100 мм2
Конфигурация без окон (повышение чувствительности обнаружения легких элементов)НетДа
Наличие Extreme Electronics (низькошумна электроника для детектирования и анализа рентгеновского излучения)ДаДа
Сильфонная подключения к SEMДаДа
Моторизованный слайдер (автоматически выдвигает детектор при слишком большом потоке электронов на малых увеличениях)ДаДа
Количественный анализ> 400 000 CPS> 400 000 CPS
Рентгенографическое картирование> 1 000 000 CPS> 1 000 000 CPS
Анализ легких элементов (работа при снижении энергии посадки электронов с 5 кВ до 3,5 кВ)Да , только с большими датчиками 100 мм2 и 170 мм2Да (от лития)
Наличие TruMap (контроль артефактов в рентгеновских спектрах и возможность разделения элементов, налагаемых)ДаДа

Если вы нашли ошибку, пожалуйста, выделите фрагмент текста и нажмите Ctrl+Enter.

Сообщить об опечатке

Текст, который будет отправлен нашим редакторам: