Система детектирования EBSD от AMETEK

Детекторы EBSD (Hikari Super EBSD camera и Velocity ™ EBSD Camera) от компании EDAX AMETEK обеспечивают высокоскоростное отражение EBSD картирования с самыми высокими показателями индексации на реальных материалах. Сочетают в себе быстрое получение данных с высокой чувствительностью и низким уровнем шума, гарантируя оптимальные условия для сбора и качества данных.

Метод EBSD (дифракция обратно рассеянных электронов), дополнительный метод определения параметров образца в сканирующем электронном микроскопе (SEM). EBSD позволяет определять тип и ориентацию кристаллической решетки локально в каждой точке образца. Локальность при изучении массивных образцов составляет около 30 нм.

EBSD незаменим при идентификации фаз в случаях, когда исследуемые фазы имеют близкий (или совсем одинаковый) состав, соответственно не идентифицируются благодаря энергодисперсионного спектрометра, но при этом имеют разное строение кристаллических решеток. Множество информации кроме фазовых и ориентационных карт может быть получено из массива данных, в котором записаны тип и ориентация кристаллической решетки для каждого пикселя на поверхности образца, выбранной для картирования.

Исследуя образцы пользователям больше не придется выбирать между скоростью и чувствительностью, поскольку серия камер EBSD (Hikari Super EBSD camera и Velocity ™ EBSD Camera) предлагает и высокую скорость и хорошую чувствительность.