Сканирующий электронный микроскоп Verios™ XHR SEM

Сканирующий электронный микроскоп Verios SEM от компании Thermo Scientific имеет уникальные технологии, такие как линзы постоянной силы для повышения термостабильности и электростатического сканирования, это позволяет получить результаты с высокой линейностью и субнанометровою точностью. Усовершенствованные возможности Verios использование низкие ускоряющие напряжения при исследованиях, а также источник электронов – полевая эмиссия Шоттки и иммерсионные магнитные линзы позволяют получение информацию о структуре поверхности образца с максимальным разрешением до 0,6нм.
SEM Verios удобно использовать для контроля качества на производстве полупроводников. С Verios удобно и быстро получать информацию об нано-узлах, что позволяет использовать его для научных работ, при управлении технологическом процессе, для создания различных материалов, при анализе дефектов.