Сканирующие электронные микроскопы FЕI

Растровые электронные микроскопы FЕI

Сканирующие электронные микроскопы (SEM) представлены линейкой оборудования от компании Thermo Scientific(в попередні роки FAI). Это быстрые, эффективные и универсальные SEM с хорошими характеристиками, которые пользуются спросом в мире.

SEM позволяет получать изображения поверхности образца путем сканирования его сфокусированным пучком электронов. Взаимодействие электронов с атомами образца создает сигналы, несущие информацию о рельефе поверхности, состав и структуру объекта исследования. Электронная пушка может быть как термоэмиссионного типа с вольфрамовой нитью, так и автоэмиссионным источником (например источник полевой эмиссии Шоттки).

В зависимости от использования детекторов для регистрации сигнала выделяют несколько режимов работы SEM: отражены электроны, вторичные электроны, катодолюминесценция и другие.

Сканирующие электронные микроскопы используются как инструмент для проведения исследований в физике, биологии, электронике, материаловедении, нанотехнологиях, и позволяют получить, изображение поверхности образца. Также могут использоваться для контроля качества образцов.

При применении данных SEM достигается разрешение от нескольких нанометров до субнанометрового диапазона (предельная разрешающая способность до 0,6 нм).

Наличие высоковакуумной платформы с подогревом (High Vacuum Heating Stage) позволяет проводить наблюдения чистых образцов при высокой температуре.

Благодаря AutoScript пользователи могут легко запрограммировать сканирования изображения и движение предметной платформы в автоматическом режиме.

Технология откачки ЕSEM позволяет моделировать среду для анализа сложных образцов обычно не пригодных для электронной микроскопии

Сканирующий электронный микроскоп Apreo™ SEM

Новации | Растровые электронные микроскопы FЕI

Сканирующий электронный микроскоп Quattro ESEM

Новации | Растровые электронные микроскопы FЕI

Сканирующий электронный микроскоп Verios™ XHR SEM

Новации | Растровые электронные микроскопы FЕI

Сканирующий электронный микроскоп Prisma™ E SEM

Новации | Растровые электронные микроскопы FЕI

Если вы нашли ошибку, пожалуйста, выделите фрагмент текста и нажмите Ctrl+Enter.

Сообщить об опечатке

Текст, который будет отправлен нашим редакторам: