Компания Новации представляет линейку сканирующих электронных микроскопов Termo Scientific (FEI) с возможностью применения их как при углубленных научных исследованиях так и для контроля качества образцов на производстве полупроводников. Выбирайте базовую конфигурацию SEM Prisma E с гарантированным разрешением до 2 нм или Verios XHR с предельным разрешением до 0,6нм.
