Компания Новации представляет линейку сканирующих электронных микроскопов FEI с возможностью применения их, как при углубленных научных исследованиях, так и для контроля качества образцов на производстве полупроводников. Выбирайте базовую конфигурацию микроскопа Prisma E с гарантированным разделение до 2 нм или специализированный SEM Verios XHR с предельной разрешением до 0,6нм
