Электронная микроскопия

Электронная микроскопия

Быстрые, эффективные и универсальные электронные микроскопы SEM и ТЕМ:

от компании FЕI (Thermo Scientific) признаны в мире ведущими системами для исследования рельефа поверхности, состава и структуры объекта с нанометровой разрешающей способностью. В электронном микроскопе для того чтобы наблюдать увеличенное изображение сфокусированый электронный пучок направляется на объект исследования. Методы наблюдения зависят от места расположения детекторов и позволяют получать различную информацию об объекте: наблюдения в прошедших через объект лучах; анализ отраженных лучей при регистрации вторичных электронов или рентгеновского излучения. Согласно поставленной задачи выбирается метод регистрации и программное обеспечение с соответствующим детектором:

  • энергодисперсионной спектроскопии (EDS),
  • дифракции обратно рассеянных электронов (EBSD),
  • спектроскопии волновой дисперсии (WDS).

Растровые электронные микроскопы FЕI

Новации | Электронная микроскопия

Просвечивающие электронные микроскопы FEI

Новации | Электронная микроскопия

Аналитические системы AMETEK

Новации | Электронная микроскопия

Аналитические системы Oxford

Новации | Электронная микроскопия

Если вы нашли ошибку, пожалуйста, выделите фрагмент текста и нажмите Ctrl+Enter.

Сообщить об опечатке

Текст, который будет отправлен нашим редакторам: