Электронная микроскопия
Быстрые, эффективные и универсальные электронные микроскопы SEM и ТЕМ:
от компании FЕI (Thermo Scientific) признаны в мире ведущими системами для исследования рельефа поверхности, состава и структуры объекта с нанометровой разрешающей способностью. В электронном микроскопе для того чтобы наблюдать увеличенное изображение сфокусированый электронный пучок направляется на объект исследования. Методы наблюдения зависят от места расположения детекторов и позволяют получать различную информацию об объекте: наблюдения в прошедших через объект лучах; анализ отраженных лучей при регистрации вторичных электронов или рентгеновского излучения. Согласно поставленной задачи выбирается метод регистрации и программное обеспечение с соответствующим детектором:
- энергодисперсионной спектроскопии (EDS),
- дифракции обратно рассеянных электронов (EBSD),
- спектроскопии волновой дисперсии (WDS).
