Аналитические системы Oxford Instruments

Аналитические системы Oxford Instruments

Благодаря электронным микроскопам SEM и ТЕМ возможно получить изображение поверхности или структуры образца путем сканирования или просвечивания его сфокусированным пучком электронов. Взаимодействие электронов с атомами образца создает сигналы, несущие информацию о рельефе поверхности, состав и структуру объекта исследования. В зависимости от механизма регистрации сигнала можно получить различную информацию об объекте исследования. Компания Oxford Instruments разрабатывает и производит передовые инструменты для приложения в электронных микроскопах (SEM и TEM) и ионно-лучевых системах (FIB). Инструменты от Oxford Instruments (детекторы и программное обеспечение) позволяют характеризовать материалы и манипулировать образцами в нанометровом диапазоне. Продажа и сервисная поддержка от компании Новации.

Области применения:

• для научно-исследовательских работ;

• для промышленных применений;

• для исследований полупроводников;

• для исследований возобновляемых источников энергии;

• для горнодобывающей промышленность;

• для металлургии;

• для криминалистических исследований

Програмное обеспечення Oxford Instruments

Новации | Аналитические системы Oxford Instruments

Система детектирования WDS Oxford Instruments

Новации | Аналитические системы Oxford Instruments

Система детектирования EDS Oxford Instruments

Новации | Аналитические системы Oxford Instruments

Система детектирования EBSD Oxford Instruments

Новации | Аналитические системы Oxford Instruments

Если вы нашли ошибку, пожалуйста, выделите фрагмент текста и нажмите Ctrl+Enter.

Сообщить об опечатке

Текст, который будет отправлен нашим редакторам: