Оновлення EPR-спектрометра дозволяє суттєво покращити ключові параметри роботи системи. Завдяки сучасним мікрохвильовим модулям і технологіям детекції можна досягти вищої чутливості за рахунок ультранизькошумного мікрохвильового джерела та вдосконаленого прийому сигналу. Точніше керування магнітним полем забезпечує кращу спектральну роздільну здатність, що особливо важливо для складних або слабких сигналів. Модернізація також дає широку сумісність із різними EPR-спектрометрами, що спрощує інтеграцію нових вузлів у вже наявну систему. Окрім цього, користувач отримує професійну сервісну підтримку, включно з монтажем на місці та гарантійним супроводом.
| Підрозділ | Мікрохвильові мости | Імпульсні мікрохвильові підсилювачі | Консоль та блок живлення магніту |
|---|---|---|---|
| Зображення | |||
| Доступні опції |
Безперервний мікрохвильовий міст, X-діапазон
|
X-діапазон
|
Модулі безперервного режиму
|
| Доступні опції |
Безперервний мікрохвильовий міст, Q-діапазон
|
Q-діапазон
|
Імпульсні модулі
|
| Параметр | Резонатор високої добротності (High-Q) | Дворежимний резонатор (Dual-Mode) | Імпульсний резонатор PW-4201-DR | Імпульсний резонатор ENDOR | Кріосистема безперервного потоку рідкого гелію | «Суха» кріосистема без рідкого гелію | Кріостат для безперервного режиму (CW) | Кріостат L-типу | Азотна система змінної температури |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Зображення | |||||||||
| Переваги | Висока добротність для підвищення чутливості CW-EPR; сумісність із азотними та гелієвими температурними системами; доступне автоматичне налаштування. | Два режими роботи; гнучкість для різних типів експериментів; сумісність із азотними та гелієвими температурними системами. | Оптимізований для імпульсних EPR-експериментів; мінімальний «мертвий час»; сумісний із низькотемпературними системами. | Для імпульсних ENDOR-експериментів; мінімальний «мертвий час»; сумісність із азотними та гелієвими температурними системами. | Низькотемпературні вимірювання з високою стабільністю; швидке охолодження; низькі втрати рідкого гелію. | Робота без рідкого гелію; низькі експлуатаційні витрати; швидке відновлення температури після заміни зразка. | Рішення для CW-EPR; сумісність із CW-резонаторами. | Підходить для імпульсних конфігурацій та ENDOR-досліджень. | Широкий діапазон температур; підходить і для високотемпературних досліджень; швидке охолодження. |
| Технічні характеристики |
Резонансна частота: 9.5–9.9 GHz Добротність (unloaded): ≥ 16,000 Макс. амплітуда модуляції: 20 Gauss Ширина резонатора: 50 mm Оптичне вікно: Ø 5 mm Доступ до зразка: Ø 10 mm |
Частота резонансу: 9.6–10 GHz (перпендикулярний режим) Частота резонансу: 9.4–9.8 GHz (паралельний режим) Макс. амплітуда модуляції: 10 Gauss Ширина резонатора: 46 mm Оптичне вікно: Ø 5 mm Доступ до зразка: Ø 10 mm |
Резонансна частота: 9.4–9.8 GHz Смуга пропускання: 400 ± 40 MHz «Мертвий час» детекції: ≤ 100 ns Шток зразка: 423 mm Оптичне вікно: 5 × 12.5 mm Фланець: KF50 Трубка зразка: 3 mm або 4 mm OD |
Резонансна частота: 9.4–9.8 GHz Смуга пропускання: 400 ± 40 MHz «Мертвий час» детекції: ≤ 100 ns Шток зразка: 423 mm Оптичне вікно: 5 × 12.5 mm Фланець: KF50 Трубка зразка: 3 mm або 4 mm OD |
Температура (зона зразка): 4.4–300 K Опційно: 3.2–300 K Стабільність температури: ± 0.1 K Час охолодження: < 30 хв |
Температура (зона зразка): 4–300 K Стабільність температури: ± 0.1 K Відновлення після зміни зразка: < 30 хв |
Сумісність: High-Q резонатор та Dual-Mode резонатор |
Сумісність: DR імпульсний резонатор та ENDOR резонатор Діаметр порожнини: 45 mm (система з рідиною), 43 mm («суха» система) |
Температура (зона зразка): 93–573 K Стабільність температури: ± 0.2 K Час охолодження: < 30 хв |