Електронна мікроскопія та елементний аналіз
Ця комплексна послуга є ключовою для високоточної структурної та хімічної верифікації матеріалів у мікро- та нанодіапазоні.
У дослідженнях поєднуються електронна мікроскопія — сканувальна (SEM) і трансмісійна (TEM) — та елементний аналіз, що разом забезпечують глибоке розуміння морфології, внутрішньої структури та хімічного складу зразків.
- Сканувальна електронна мікроскопія (SEM) надає тривимірну (3D) інформацію про топографію поверхні, що дозволяє оцінювати дефекти, розмір частинок та ступінь агрегації.
- Трансмісійна електронна мікроскопія (TEM) забезпечує субангстремну роздільну здатність, необхідну для дослідження внутрішньої будови, кристалічних ґраток і локалізації фаз.
- Елементний аналіз за допомогою енергодисперсійної спектроскопії (EDS) дає змогу виконувати локальне хімічне картування та визначати наявність атомів металів, легуючих елементів або мікродомішок.
Для абсолютного кількісного визначення вмісту металів використовується мас-спектрометрія з індуктивно зв’язаною плазмою (ICP-MS) або оптична емісійна спектрометрія (ICP-OES). Ці методи забезпечують найвищу точність у визначенні загального елементного профілю, включаючи навіть слідові концентрації.
Фармацевтика та наномедицина
Детальна візуалізація морфології наночастинок і оцінка їхньої гомогенності, агрегації та розподілу в кінцевому продукті.
Аналіз домішок і дефектів
Локалізація та елементна ідентифікація мікродомішок, забруднень або включень у матеріалах, що є критичною для контролю якості та безпеки.
Матеріалознавство
Характеристика мультишарових структур, композитів і тонких плівок, визначення елементного складу та гомогенності на поверхні або у зрізі.
Біологія та токсикологія
Вивчення інтрацелюлярного шляху наночастинок та підтвердження накопичення металів у клітинах.
- Сканувальна електронна мікроскопія (SEM): візуалізація поверхні та топографії зразка, оцінка морфології, розміру частинок і дефектів.
- Трансмісійна електронна мікроскопія (TEM): візуалізація внутрішньої структури, кристалічних ґраток і нанорозмірних об’єктів із високою просторовою роздільною здатністю.
- Енергодисперсійна спектроскопія (EDS): локальне хімічне картування та елементний аналіз, інтегрований із мікроскопією, для точної ідентифікації елементів.
- Спектрометрія з індуктивно зв’язаною плазмою (ICP-OES / ICP-MS): абсолютне кількісне визначення загального вмісту металів та побудова елементного профілю з високою точністю і чутливістю.